Постоянная решётки (Russian Wikipedia)

Analysis of information sources in references of the Wikipedia article "Постоянная решётки" in Russian language version.

refsWebsite

Global rank Russian rank

3web.archive.org

1^st place

1^st place

5^th place

5^th place

2^nd place

3^rd place

low place

low place

low place

low place

610^th place

575^th place

2,323^rd place

low place

csic.es

xtal.iqfr.csic.es

Dept. of Crystallography & Struc. Biol. CSIC. 4. Direct and reciprocal lattices (неопр.) (4 июня 2015). Дата обращения: 9 июня 2015. Архивировано 4 мая 2021 года.

doi.org

dx.doi.org

R. V. Lapshin. Automatic lateral calibration of tunneling microscope scanners (англ.) // Review of Scientific Instruments^[англ.] : journal. — USA: AIP, 1998. — Vol. 69, no. 9. — P. 3268—3276. — ISSN 0034-6748. — doi:10.1063/1.1149091. Архивировано 9 мая 2023 года.
R. V. Lapshin. Drift-insensitive distributed calibration of probe microscope scanner in nanometer range: Real mode (англ.) // Applied Surface Science : journal. — Netherlands: Elsevier B. V., 2019. — Vol. 470. — P. 1122—1129. — ISSN 0169-4332. — doi:10.1016/j.apsusc.2018.10.149. Архивировано 15 июня 2023 года.

elsevier.com

authors.elsevier.com

R. V. Lapshin. Drift-insensitive distributed calibration of probe microscope scanner in nanometer range: Real mode (англ.) // Applied Surface Science : journal. — Netherlands: Elsevier B. V., 2019. — Vol. 470. — P. 1122—1129. — ISSN 0169-4332. — doi:10.1016/j.apsusc.2018.10.149. Архивировано 15 июня 2023 года.

fast-page.org

lapshin.fast-page.org

R. V. Lapshin. Automatic lateral calibration of tunneling microscope scanners (англ.) // Review of Scientific Instruments^[англ.] : journal. — USA: AIP, 1998. — Vol. 69, no. 9. — P. 3268—3276. — ISSN 0034-6748. — doi:10.1063/1.1149091. Архивировано 9 мая 2023 года.

web.archive.org

R. V. Lapshin. Automatic lateral calibration of tunneling microscope scanners (англ.) // Review of Scientific Instruments^[англ.] : journal. — USA: AIP, 1998. — Vol. 69, no. 9. — P. 3268—3276. — ISSN 0034-6748. — doi:10.1063/1.1149091. Архивировано 9 мая 2023 года.
R. V. Lapshin. Drift-insensitive distributed calibration of probe microscope scanner in nanometer range: Real mode (англ.) // Applied Surface Science : journal. — Netherlands: Elsevier B. V., 2019. — Vol. 470. — P. 1122—1129. — ISSN 0169-4332. — doi:10.1016/j.apsusc.2018.10.149. Архивировано 15 июня 2023 года.
Dept. of Crystallography & Struc. Biol. CSIC. 4. Direct and reciprocal lattices (неопр.) (4 июня 2015). Дата обращения: 9 июня 2015. Архивировано 4 мая 2021 года.

wikipedia.org

en.wikipedia.org

R. V. Lapshin. Automatic lateral calibration of tunneling microscope scanners (англ.) // Review of Scientific Instruments^[англ.] : journal. — USA: AIP, 1998. — Vol. 69, no. 9. — P. 3268—3276. — ISSN 0034-6748. — doi:10.1063/1.1149091. Архивировано 9 мая 2023 года.

worldcat.org

R. V. Lapshin. Automatic lateral calibration of tunneling microscope scanners (англ.) // Review of Scientific Instruments^[англ.] : journal. — USA: AIP, 1998. — Vol. 69, no. 9. — P. 3268—3276. — ISSN 0034-6748. — doi:10.1063/1.1149091. Архивировано 9 мая 2023 года.
R. V. Lapshin. Drift-insensitive distributed calibration of probe microscope scanner in nanometer range: Real mode (англ.) // Applied Surface Science : journal. — Netherlands: Elsevier B. V., 2019. — Vol. 470. — P. 1122—1129. — ISSN 0169-4332. — doi:10.1016/j.apsusc.2018.10.149. Архивировано 15 июня 2023 года.