Сканирующий зондовый микроскоп (Russian Wikipedia)

Analysis of information sources in references of the Wikipedia article "Сканирующий зондовый микроскоп" in Russian language version.

refsWebsite

Global rank Russian rank

21web.archive.org

1^st place

6worldcat.org

5^th place

6doi.org

2^nd place

3^rd place

5fast-page.org

low place

5wikipedia.org

low place

3nanoscantech.com

low place

3nanotech.ru

low place

2jpk.com

low place

2aist-nt.ru

low place

1aip.org

2,204^th place

3,989^th place

1archive.today

14^th place

11^th place

1materialstoday.com

low place

1gwyddion.net

low place

1veeco.com

low place

1omicron.de

low place

1nanoscantech.ru

low place

1microtm.com

low place

1ntmdt.ru

low place

1nanoscopy.net

low place

aip.org

rsi.aip.org

V. Y. Yurov, A. N. Klimov. Scanning tunneling microscope calibration and reconstruction of real image: Drift and slope elimination (англ.) // Review of Scientific Instruments^[англ.] : journal. — USA: AIP, 1994. — Vol. 65, no. 5. — P. 1551—1557. — ISSN 0034-6748. — doi:10.1063/1.1144890. Архивировано 13 июля 2012 года.

aist-nt.ru

Комплекс СЗМ с конфокальным рамановским и флюоресцентным спектрометром (недоступная ссылка)
Официальный сайт ООО «АИСТ-НТ». (неопр.) Дата обращения: 7 марта 2010. Архивировано 22 августа 2010 года.

archive.today

V. Y. Yurov, A. N. Klimov. Scanning tunneling microscope calibration and reconstruction of real image: Drift and slope elimination (англ.) // Review of Scientific Instruments^[англ.] : journal. — USA: AIP, 1994. — Vol. 65, no. 5. — P. 1551—1557. — ISSN 0034-6748. — doi:10.1063/1.1144890. Архивировано 13 июля 2012 года.

doi.org

dx.doi.org

R. V. Lapshin. Feature-oriented scanning methodology for probe microscopy and nanotechnology (англ.) // Nanotechnology : journal. — UK: IOP, 2004. — Vol. 15, no. 9. — P. 1135—1151. — ISSN 0957-4484. — doi:10.1088/0957-4484/15/9/006. Архивировано 9 сентября 2013 года.
R. V. Lapshin. Automatic drift elimination in probe microscope images based on techniques of counter-scanning and topography feature recognition (англ.) // Measurement Science and Technology^[англ.] : journal. — UK: IOP, 2007. — Vol. 18, no. 3. — P. 907—927. — ISSN 0957-0233. — doi:10.1088/0957-0233/18/3/046. Архивировано 9 сентября 2013 года.
V. Y. Yurov, A. N. Klimov. Scanning tunneling microscope calibration and reconstruction of real image: Drift and slope elimination (англ.) // Review of Scientific Instruments^[англ.] : journal. — USA: AIP, 1994. — Vol. 65, no. 5. — P. 1551—1557. — ISSN 0034-6748. — doi:10.1063/1.1144890. Архивировано 13 июля 2012 года.
G. Schitter, M. J. Rost. Scanning probe microscopy at video-rate (англ.) // Materials Today^[англ.] : journal. — UK: Elsevier, 2008. — No. special issue. — P. 40—48. — ISSN 1369-7021. — doi:10.1016/S1369-7021(09)70006-9. Архивировано 9 сентября 2009 года.
R. V. Lapshin, O. V. Obyedkov. Fast-acting piezoactuator and digital feedback loop for scanning tunneling microscopes (англ.) // Review of Scientific Instruments^[англ.] : journal. — USA: AIP, 1993. — Vol. 64, no. 10. — P. 2883—2887. — ISSN 0034-6748. — doi:10.1063/1.1144377. Архивировано 9 сентября 2013 года.
R. V. Lapshin. Analytical model for the approximation of hysteresis loop and its application to the scanning tunneling microscope (англ.) // Review of Scientific Instruments^[англ.] : journal. — USA: AIP, 1995. — Vol. 66, no. 9. — P. 4718—4730. — ISSN 0034-6748. — doi:10.1063/1.1145314. Архивировано 9 сентября 2013 года. (имеется перевод на русский Архивная копия от 9 сентября 2013 на Wayback Machine).

fast-page.org

lapshin.fast-page.org

R. V. Lapshin. Feature-oriented scanning methodology for probe microscopy and nanotechnology (англ.) // Nanotechnology : journal. — UK: IOP, 2004. — Vol. 15, no. 9. — P. 1135—1151. — ISSN 0957-4484. — doi:10.1088/0957-4484/15/9/006. Архивировано 9 сентября 2013 года.
R. V. Lapshin. Automatic drift elimination in probe microscope images based on techniques of counter-scanning and topography feature recognition (англ.) // Measurement Science and Technology^[англ.] : journal. — UK: IOP, 2007. — Vol. 18, no. 3. — P. 907—927. — ISSN 0957-0233. — doi:10.1088/0957-0233/18/3/046. Архивировано 9 сентября 2013 года.
R. V. Lapshin, O. V. Obyedkov. Fast-acting piezoactuator and digital feedback loop for scanning tunneling microscopes (англ.) // Review of Scientific Instruments^[англ.] : journal. — USA: AIP, 1993. — Vol. 64, no. 10. — P. 2883—2887. — ISSN 0034-6748. — doi:10.1063/1.1144377. Архивировано 9 сентября 2013 года.
R. V. Lapshin. Analytical model for the approximation of hysteresis loop and its application to the scanning tunneling microscope (англ.) // Review of Scientific Instruments^[англ.] : journal. — USA: AIP, 1995. — Vol. 66, no. 9. — P. 4718—4730. — ISSN 0034-6748. — doi:10.1063/1.1145314. Архивировано 9 сентября 2013 года. (имеется перевод на русский Архивная копия от 9 сентября 2013 на Wayback Machine).
R. V. Lapshin. Encyclopedia of Nanoscience and Nanotechnology (англ.) / H. S. Nalwa. — USA: American Scientific Publishers, 2011. — Vol. 14. — P. 105—115. — ISBN 1-58883-163-9. Архивировано 9 сентября 2013 года.

gwyddion.net

Свободное программное обеспечение для обработки СЗМ изображений (неопр.). Дата обращения: 15 февраля 2020. Архивировано из оригинала 29 сентября 2014 года.

jpk.com

Комплекс для исследований в области биологии и материаловедения, сочетающий в себе СЗМ и оптический микроскоп (неопр.). Дата обращения: 16 февраля 2010. Архивировано 28 марта 2010 года.
Комплекс на основе СЗМ, оптического микроскопа и спектрометра (неопр.). Дата обращения: 7 марта 2010. Архивировано 9 апреля 2010 года.

materialstoday.com

G. Schitter, M. J. Rost. Scanning probe microscopy at video-rate (англ.) // Materials Today^[англ.] : journal. — UK: Elsevier, 2008. — No. special issue. — P. 40—48. — ISSN 1369-7021. — doi:10.1016/S1369-7021(09)70006-9. Архивировано 9 сентября 2009 года.

microtm.com

Microtestmachines Co. ::: SPM NT-206 (неопр.). Дата обращения: 13 мая 2010. Архивировано 7 мая 2008 года.

nanoscantech.com

Комплекс для исследований на основе прямого или инвертированного микроскопа, сочетающий в себе СЗМ и оптический микроскоп (неопр.). Дата обращения: 7 марта 2010. Архивировано 25 февраля 2010 года.
Исследовательский комплекс, совмещающий СЗМ, спектрометры и оптический микроскоп (неопр.). Дата обращения: 7 марта 2010. Архивировано 25 февраля 2010 года.
АСМ, установленный в криоультрамикротом (неопр.). Дата обращения: 7 марта 2010. Архивировано из оригинала 14 октября 2010 года.

nanoscantech.ru

Официальный сайт ООО «Нано Скан Технология». (неопр.) Дата обращения: 28 марта 2010. Архивировано 18 февраля 2011 года.

nanoscopy.net

Официальный сайт ООО НПП «Центр перспективных технологий». (неопр.) Дата обращения: 17 февраля 2010. Архивировано 4 марта 2010 года.

nanotech.ru

Официальный сайт ИНАТ МФК. (неопр.) Дата обращения: 8 сентября 2010. Архивировано 10 июля 2010 года.
Описание НТК «УМКА». (неопр.) Дата обращения: 8 сентября 2010. Архивировано 1 июля 2010 года.
Описание установки для заточки зондов. (неопр.) Дата обращения: 8 сентября 2010. Архивировано 3 июля 2010 года.

ntmdt.ru

Официальный сайт ЗАО «Нанотехнология МДТ». (неопр.) Дата обращения: 17 февраля 2010. Архивировано 24 марта 2010 года.

omicron.de

Комплекс для исследований, совмещающий электронный и сканирующий зондовый микроскопы (недоступная ссылка)

veeco.com

Комплекс для исследований в области биологии, сочетающий в себе СЗМ и оптический микроскоп (неопр.). Дата обращения: 17 февраля 2010. Архивировано из оригинала 4 марта 2010 года.

web.archive.org

R. V. Lapshin. Feature-oriented scanning methodology for probe microscopy and nanotechnology (англ.) // Nanotechnology : journal. — UK: IOP, 2004. — Vol. 15, no. 9. — P. 1135—1151. — ISSN 0957-4484. — doi:10.1088/0957-4484/15/9/006. Архивировано 9 сентября 2013 года.
R. V. Lapshin. Automatic drift elimination in probe microscope images based on techniques of counter-scanning and topography feature recognition (англ.) // Measurement Science and Technology^[англ.] : journal. — UK: IOP, 2007. — Vol. 18, no. 3. — P. 907—927. — ISSN 0957-0233. — doi:10.1088/0957-0233/18/3/046. Архивировано 9 сентября 2013 года.
G. Schitter, M. J. Rost. Scanning probe microscopy at video-rate (англ.) // Materials Today^[англ.] : journal. — UK: Elsevier, 2008. — No. special issue. — P. 40—48. — ISSN 1369-7021. — doi:10.1016/S1369-7021(09)70006-9. Архивировано 9 сентября 2009 года.
R. V. Lapshin, O. V. Obyedkov. Fast-acting piezoactuator and digital feedback loop for scanning tunneling microscopes (англ.) // Review of Scientific Instruments^[англ.] : journal. — USA: AIP, 1993. — Vol. 64, no. 10. — P. 2883—2887. — ISSN 0034-6748. — doi:10.1063/1.1144377. Архивировано 9 сентября 2013 года.
R. V. Lapshin. Analytical model for the approximation of hysteresis loop and its application to the scanning tunneling microscope (англ.) // Review of Scientific Instruments^[англ.] : journal. — USA: AIP, 1995. — Vol. 66, no. 9. — P. 4718—4730. — ISSN 0034-6748. — doi:10.1063/1.1145314. Архивировано 9 сентября 2013 года. (имеется перевод на русский Архивная копия от 9 сентября 2013 на Wayback Machine).
R. V. Lapshin. Encyclopedia of Nanoscience and Nanotechnology (англ.) / H. S. Nalwa. — USA: American Scientific Publishers, 2011. — Vol. 14. — P. 105—115. — ISBN 1-58883-163-9. Архивировано 9 сентября 2013 года.
Свободное программное обеспечение для обработки СЗМ изображений (неопр.). Дата обращения: 15 февраля 2020. Архивировано из оригинала 29 сентября 2014 года.
Комплекс для исследований в области биологии и материаловедения, сочетающий в себе СЗМ и оптический микроскоп (неопр.). Дата обращения: 16 февраля 2010. Архивировано 28 марта 2010 года.
Комплекс для исследований на основе прямого или инвертированного микроскопа, сочетающий в себе СЗМ и оптический микроскоп (неопр.). Дата обращения: 7 марта 2010. Архивировано 25 февраля 2010 года.
Комплекс для исследований в области биологии, сочетающий в себе СЗМ и оптический микроскоп (неопр.). Дата обращения: 17 февраля 2010. Архивировано из оригинала 4 марта 2010 года.
Комплекс на основе СЗМ, оптического микроскопа и спектрометра (неопр.). Дата обращения: 7 марта 2010. Архивировано 9 апреля 2010 года.
Исследовательский комплекс, совмещающий СЗМ, спектрометры и оптический микроскоп (неопр.). Дата обращения: 7 марта 2010. Архивировано 25 февраля 2010 года.
АСМ, установленный в криоультрамикротом (неопр.). Дата обращения: 7 марта 2010. Архивировано из оригинала 14 октября 2010 года.
Официальный сайт ИНАТ МФК. (неопр.) Дата обращения: 8 сентября 2010. Архивировано 10 июля 2010 года.
Описание НТК «УМКА». (неопр.) Дата обращения: 8 сентября 2010. Архивировано 1 июля 2010 года.
Описание установки для заточки зондов. (неопр.) Дата обращения: 8 сентября 2010. Архивировано 3 июля 2010 года.
Официальный сайт ООО «АИСТ-НТ». (неопр.) Дата обращения: 7 марта 2010. Архивировано 22 августа 2010 года.
Официальный сайт ООО «Нано Скан Технология». (неопр.) Дата обращения: 28 марта 2010. Архивировано 18 февраля 2011 года.
Microtestmachines Co. ::: SPM NT-206 (неопр.). Дата обращения: 13 мая 2010. Архивировано 7 мая 2008 года.
Официальный сайт ЗАО «Нанотехнология МДТ». (неопр.) Дата обращения: 17 февраля 2010. Архивировано 24 марта 2010 года.
Официальный сайт ООО НПП «Центр перспективных технологий». (неопр.) Дата обращения: 17 февраля 2010. Архивировано 4 марта 2010 года.

wikipedia.org

en.wikipedia.org

R. V. Lapshin. Automatic drift elimination in probe microscope images based on techniques of counter-scanning and topography feature recognition (англ.) // Measurement Science and Technology^[англ.] : journal. — UK: IOP, 2007. — Vol. 18, no. 3. — P. 907—927. — ISSN 0957-0233. — doi:10.1088/0957-0233/18/3/046. Архивировано 9 сентября 2013 года.
V. Y. Yurov, A. N. Klimov. Scanning tunneling microscope calibration and reconstruction of real image: Drift and slope elimination (англ.) // Review of Scientific Instruments^[англ.] : journal. — USA: AIP, 1994. — Vol. 65, no. 5. — P. 1551—1557. — ISSN 0034-6748. — doi:10.1063/1.1144890. Архивировано 13 июля 2012 года.
G. Schitter, M. J. Rost. Scanning probe microscopy at video-rate (англ.) // Materials Today^[англ.] : journal. — UK: Elsevier, 2008. — No. special issue. — P. 40—48. — ISSN 1369-7021. — doi:10.1016/S1369-7021(09)70006-9. Архивировано 9 сентября 2009 года.
R. V. Lapshin, O. V. Obyedkov. Fast-acting piezoactuator and digital feedback loop for scanning tunneling microscopes (англ.) // Review of Scientific Instruments^[англ.] : journal. — USA: AIP, 1993. — Vol. 64, no. 10. — P. 2883—2887. — ISSN 0034-6748. — doi:10.1063/1.1144377. Архивировано 9 сентября 2013 года.
R. V. Lapshin. Analytical model for the approximation of hysteresis loop and its application to the scanning tunneling microscope (англ.) // Review of Scientific Instruments^[англ.] : journal. — USA: AIP, 1995. — Vol. 66, no. 9. — P. 4718—4730. — ISSN 0034-6748. — doi:10.1063/1.1145314. Архивировано 9 сентября 2013 года. (имеется перевод на русский Архивная копия от 9 сентября 2013 на Wayback Machine).

worldcat.org

R. V. Lapshin. Feature-oriented scanning methodology for probe microscopy and nanotechnology (англ.) // Nanotechnology : journal. — UK: IOP, 2004. — Vol. 15, no. 9. — P. 1135—1151. — ISSN 0957-4484. — doi:10.1088/0957-4484/15/9/006. Архивировано 9 сентября 2013 года.
R. V. Lapshin. Automatic drift elimination in probe microscope images based on techniques of counter-scanning and topography feature recognition (англ.) // Measurement Science and Technology^[англ.] : journal. — UK: IOP, 2007. — Vol. 18, no. 3. — P. 907—927. — ISSN 0957-0233. — doi:10.1088/0957-0233/18/3/046. Архивировано 9 сентября 2013 года.
V. Y. Yurov, A. N. Klimov. Scanning tunneling microscope calibration and reconstruction of real image: Drift and slope elimination (англ.) // Review of Scientific Instruments^[англ.] : journal. — USA: AIP, 1994. — Vol. 65, no. 5. — P. 1551—1557. — ISSN 0034-6748. — doi:10.1063/1.1144890. Архивировано 13 июля 2012 года.
G. Schitter, M. J. Rost. Scanning probe microscopy at video-rate (англ.) // Materials Today^[англ.] : journal. — UK: Elsevier, 2008. — No. special issue. — P. 40—48. — ISSN 1369-7021. — doi:10.1016/S1369-7021(09)70006-9. Архивировано 9 сентября 2009 года.
R. V. Lapshin, O. V. Obyedkov. Fast-acting piezoactuator and digital feedback loop for scanning tunneling microscopes (англ.) // Review of Scientific Instruments^[англ.] : journal. — USA: AIP, 1993. — Vol. 64, no. 10. — P. 2883—2887. — ISSN 0034-6748. — doi:10.1063/1.1144377. Архивировано 9 сентября 2013 года.
R. V. Lapshin. Analytical model for the approximation of hysteresis loop and its application to the scanning tunneling microscope (англ.) // Review of Scientific Instruments^[англ.] : journal. — USA: AIP, 1995. — Vol. 66, no. 9. — P. 4718—4730. — ISSN 0034-6748. — doi:10.1063/1.1145314. Архивировано 9 сентября 2013 года. (имеется перевод на русский Архивная копия от 9 сентября 2013 на Wayback Machine).