فحص مجهري بالمسبار الماسح (Arabic Wikipedia)

Analysis of information sources in references of the Wikipedia article "فحص مجهري بالمسبار الماسح" in Arabic language version.

refsWebsite

Global rank Arabic rank

24doi.org

2^nd place

5^th place

20harvard.edu

18^th place

33^rd place

11web.archive.org

1^st place

4nih.gov

4^th place

6^th place

3aip.org

2,204^th place

1,520^th place

2worldcat.org

5^th place

4^th place

2sciencemag.org

857^th place

469^th place

1nanoworld.org

low place

1aps.org

1,503^rd place

1,603^rd place

1sciencedirect.com

149^th place

233^rd place

1uni-ulm.de

low place

1springerlink.com

2,569^th place

738^th place

1FemtoScanOnline.com

low place

FemtoScanOnline.com

Advanced Technologies Center - Advanced Technologies Center نسخة محفوظة 23 يونيو 2018 على موقع واي باك مشين.

aip.org

link.aip.org

Higgins، S. R. (1996-03). "Morphology and dissolution processes of metal sulfide minerals observed with the electrochemical scanning tunneling microscope". J. Vac. Sci. Technol. B. AVS. ج. 14. ص. 1360–1364. DOI:10.1116/1.589098. مؤرشف من الأصل في 5 مارس 2016. اطلع عليه بتاريخ 2009-10-05. {{استشهاد بمنشورات مؤتمر}}: تحقق من التاريخ في: |تاريخ= (مساعدة) والوسيط author-name-list parameters تكرر أكثر من مرة (مساعدة)
Fritz، M. (1994-05). "Visualization and identification of intracellular structures by force modulation microscopy and drug induced degradation". The 1993 international conference on scanning tunneling microscopy. Beijing, China: AVS. ج. 12. ص. 1526–1529. DOI:10.1116/1.587278. مؤرشف من الأصل في 5 مارس 2016. اطلع عليه بتاريخ 2009-10-05. {{استشهاد بمنشورات مؤتمر}}: تحقق من التاريخ في: |تاريخ= (مساعدة)، الوسيط |عنوان المؤتمر= و|عنوان الكتاب= تكرر أكثر من مرة (مساعدة)، والوسيط author-name-list parameters تكرر أكثر من مرة (مساعدة)
Eriksson، M. A. (29 يوليو 1996). "Cryogenic scanning probe characterization of semiconductor nanostructures". Applied Physics Letters. ج. 69 ع. 5: 671–673. Bibcode:1996ApPhL..69..671E. DOI:10.1063/1.117801. مؤرشف من الأصل في 2016-03-05. اطلع عليه بتاريخ 2009-10-05. {{استشهاد بدورية محكمة}}: الوسيط author-name-list parameters تكرر أكثر من مرة (مساعدة)

aps.org

journals.aps.org

Reddick، R. C. (1 يناير 1989). "New form of scanning optical microscopy". Physical Review B. ج. 39 ع. 1: 767. Bibcode:1989PhRvB..39..767R. DOI:10.1103/PhysRevB.39.767. مؤرشف من الأصل في 2019-12-10. اطلع عليه بتاريخ 2009-10-05. {{استشهاد بدورية محكمة}}: الوسيط author-name-list parameters تكرر أكثر من مرة (مساعدة)

doi.org

Binnig، G. (3 مارس 1986). "Atomic Force Microscope". Physical Review Letters. ج. 56 ع. 9: 930–933. Bibcode:1986PhRvL..56..930B. DOI:10.1103/PhysRevLett.56.930. PMID:10033323. {{استشهاد بدورية محكمة}}: الوسيط author-name-list parameters تكرر أكثر من مرة (مساعدة)
Kaiser، W. J. (1988). "Direct investigation of subsurface interface electronic structure by ballistic-electron-emission microscopy". Physical Review Letters. ج. 60 ع. 14: 1406–1409. Bibcode:1988PhRvL..60.1406K. DOI:10.1103/PhysRevLett.60.1406. PMID:10038030. {{استشهاد بدورية محكمة}}: الوسيط author-name-list parameters تكرر أكثر من مرة (مساعدة)
Zhang، L. (1999). "Nanostructural conductivity and surface-potential study of low-field-emission carbon films with conductive scanning probe microscopy". Applied Physics Letters. ج. 75 ع. 22: 3527–3529. Bibcode:1999ApPhL..75.3527Z. DOI:10.1063/1.125377. {{استشهاد بدورية محكمة}}: الوسيط author-name-list parameters تكرر أكثر من مرة (مساعدة)
Higgins، S. R. (1996-03). "Morphology and dissolution processes of metal sulfide minerals observed with the electrochemical scanning tunneling microscope". J. Vac. Sci. Technol. B. AVS. ج. 14. ص. 1360–1364. DOI:10.1116/1.589098. مؤرشف من الأصل في 5 مارس 2016. اطلع عليه بتاريخ 2009-10-05. {{استشهاد بمنشورات مؤتمر}}: تحقق من التاريخ في: |تاريخ= (مساعدة) والوسيط author-name-list parameters تكرر أكثر من مرة (مساعدة)
Weaver، J. M. R. (1991). "High resolution atomic force microscopy potentiometry". Journal of Vacuum Science & Technology B: Microelectronics and Nanometer Structures. ج. 9 ع. 3: 1559–1561. Bibcode:1991JVSTB...9.1559W. DOI:10.1116/1.585423. {{استشهاد بدورية محكمة}}: الوسيط author-name-list parameters تكرر أكثر من مرة (مساعدة)
Meister، André؛ Gabi، Michael؛ Behr، Pascal؛ Studer، Philipp؛ Vörös، János؛ Niedermann، Philippe؛ Bitterli، Joanna؛ Polesel-Maris، Jérôme؛ Liley، Martha؛ Heinzelmann، Harry؛ Zambelli، Tomaso (2009). "FluidFM: Combining Atomic Force Microscopy and Nanofluidics in a Universal Liquid Delivery System for Single Cell Applications and Beyond". Nano Letters. ج. 9 ع. 6: 2501–2507. Bibcode:2009NanoL...9.2501M. DOI:10.1021/nl901384x. ISSN:1530-6984.
Fritz، M. (1994-05). "Visualization and identification of intracellular structures by force modulation microscopy and drug induced degradation". The 1993 international conference on scanning tunneling microscopy. Beijing, China: AVS. ج. 12. ص. 1526–1529. DOI:10.1116/1.587278. مؤرشف من الأصل في 5 مارس 2016. اطلع عليه بتاريخ 2009-10-05. {{استشهاد بمنشورات مؤتمر}}: تحقق من التاريخ في: |تاريخ= (مساعدة)، الوسيط |عنوان المؤتمر= و|عنوان الكتاب= تكرر أكثر من مرة (مساعدة)، والوسيط author-name-list parameters تكرر أكثر من مرة (مساعدة)
Nonnenmacher، M. (1991). "Kelvin probe force microscopy". Applied Physics Letters. ج. 58 ع. 25: 2921–2923. Bibcode:1991ApPhL..58.2921N. DOI:10.1063/1.105227. {{استشهاد بدورية محكمة}}: الوسيط author-name-list parameters تكرر أكثر من مرة (مساعدة)
Hartmann، U. (1988). "Magnetic force microscopy: Some remarks from the micromagnetic point of view". Journal of Applied Physics. ج. 64 ع. 3: 1561–1564. Bibcode:1988JAP....64.1561H. DOI:10.1063/1.341836.
Sidles، J. A. (1995). "Magnetic resonance force microscopy". Reviews of Modern Physics. ج. 67 ع. 1: 249. Bibcode:1995RvMP...67..249S. DOI:10.1103/RevModPhys.67.249. {{استشهاد بدورية محكمة}}: الوسيط |تاريخ الوصول بحاجة لـ |مسار= (مساعدة) والوسيط author-name-list parameters تكرر أكثر من مرة (مساعدة)
BETZIG، E. (22 مارس 1991). "Breaking the Diffraction Barrier: Optical Microscopy on a Nanometric Scale". Science. ج. 251 ع. 5000: 1468–1470. Bibcode:1991Sci...251.1468B. DOI:10.1126/science.251.5000.1468. PMID:17779440. مؤرشف من الأصل في 2009-03-27. اطلع عليه بتاريخ 2009-10-05. {{استشهاد بدورية محكمة}}: الوسيط author-name-list parameters تكرر أكثر من مرة (مساعدة)
Roelofs، A. (2000). "Differentiating 180° and 90° switching of ferroelectric domains with three-dimensional piezoresponse force microscopy". Applied Physics Letters. ج. 77 ع. 21: 3444–3446. Bibcode:2000ApPhL..77.3444R. DOI:10.1063/1.1328049. {{استشهاد بدورية محكمة}}: الوسيط author-name-list parameters تكرر أكثر من مرة (مساعدة)
Reddick، R. C. (1 يناير 1989). "New form of scanning optical microscopy". Physical Review B. ج. 39 ع. 1: 767. Bibcode:1989PhRvB..39..767R. DOI:10.1103/PhysRevB.39.767. مؤرشف من الأصل في 2019-12-10. اطلع عليه بتاريخ 2009-10-05. {{استشهاد بدورية محكمة}}: الوسيط author-name-list parameters تكرر أكثر من مرة (مساعدة)
Matey، J. R. (1985). "Scanning capacitance microscopy". Journal of Applied Physics. ج. 57 ع. 5: 1437–1444. Bibcode:1985JAP....57.1437M. DOI:10.1063/1.334506. {{استشهاد بدورية محكمة}}: الوسيط author-name-list parameters تكرر أكثر من مرة (مساعدة)
Eriksson، M. A. (29 يوليو 1996). "Cryogenic scanning probe characterization of semiconductor nanostructures". Applied Physics Letters. ج. 69 ع. 5: 671–673. Bibcode:1996ApPhL..69..671E. DOI:10.1063/1.117801. مؤرشف من الأصل في 2016-03-05. اطلع عليه بتاريخ 2009-10-05. {{استشهاد بدورية محكمة}}: الوسيط author-name-list parameters تكرر أكثر من مرة (مساعدة)
Chang، A. M. (1992). "Scanning Hall probe microscopy". Applied Physics Letters. ج. 61 ع. 16: 1974–1976. Bibcode:1992ApPhL..61.1974C. DOI:10.1063/1.108334. {{استشهاد بدورية محكمة}}: الوسيط author-name-list parameters تكرر أكثر من مرة (مساعدة)
Hansma، PK (3 فبراير 1989). "The scanning ion-conductance microscope". Science. ج. 243 ع. 4891: 641–643. Bibcode:1989Sci...243..641H. DOI:10.1126/science.2464851. PMID:2464851. مؤرشف من الأصل في 2008-05-26. اطلع عليه بتاريخ 2009-10-05. {{استشهاد بدورية محكمة}}: الوسيط author-name-list parameters تكرر أكثر من مرة (مساعدة)
Wiesendanger، R. (25 يوليو 2001). "Nano- and atomic-scale magnetism studied by spin-polarized scanning tunneling microscopy and spectroscopy". Solid State Communications. ج. 119 ع. 4–5: 341–355. Bibcode:2001SSCom.119..341W. DOI:10.1016/S0038-1098(01)00103-X. ISSN:0038-1098. مؤرشف من الأصل في 2020-05-26. اطلع عليه بتاريخ 2009-10-05. {{استشهاد بدورية محكمة}}: الوسيط author-name-list parameters تكرر أكثر من مرة (مساعدة)
De Wolf، P. (1995). "Characterization of a point-contact on silicon using force microscopy-supported resistance measurements". Applied Physics Letters. ج. 66 ع. 12: 1530–1532. Bibcode:1995ApPhL..66.1530D. DOI:10.1063/1.113636. {{استشهاد بدورية محكمة}}: الوسيط author-name-list parameters تكرر أكثر من مرة (مساعدة)
Xu، J. B. (1994). "Thermal sensors for investigation of heat transfer in scanning probe microscopy". Review of Scientific Instruments. ج. 65 ع. 7: 2262–2266. Bibcode:1994RScI...65.2262X. DOI:10.1063/1.1145225. {{استشهاد بدورية محكمة}}: الوسيط author-name-list parameters تكرر أكثر من مرة (مساعدة)
Binnig، G. (1982). "Tunneling through a controllable vacuum gap". Applied Physics Letters. ج. 40 ع. 2: 178–180. Bibcode:1982ApPhL..40..178B. DOI:10.1063/1.92999. {{استشهاد بدورية محكمة}}: الوسيط author-name-list parameters تكرر أكثر من مرة (مساعدة)
Trenkler، T. (1998). "Nanopotentiometry: Local potential measurements in complementary metal--oxide--semiconductor transistors using atomic force microscopy". J. Vac. Sci. Techn. B. ج. 16: 367–372. Bibcode:1998JVSTB..16..367T. DOI:10.1116/1.589812. {{استشهاد بدورية محكمة}}: الوسيط author-name-list parameters تكرر أكثر من مرة (مساعدة)
Volker Rose, John W. Freeland, Stephen K. Streiffer (2011). "New Capabilities at the Interface of X-Rays and Scanning Tunneling Microscopy". في Kalinin, Sergei V.; Gruverman, Alexei (Eds.) (المحرر). Scanning Probe Microscopy of Functional Materials: Nanoscale Imaging and Spectroscopy (ط. 1st). New York: Springer. ص. 405–431. DOI:10.1007/978-1-4419-7167-8_14. ISBN:978-1-4419-6567-7. مؤرشف من الأصل في 10 مايو 2020. اطلع عليه بتاريخ أكتوبر 2020. {{استشهاد بكتاب}}: تحقق من التاريخ في: |تاريخ الوصول= (مساعدة)صيانة الاستشهاد: أسماء متعددة: قائمة المؤلفين (link)
Akamine، S. (1990). "Improved atomic force microscope images using microcantilevers with sharp tips". Applied Physics Letters. ج. 57 ع. 3: 316. DOI:10.1063/1.103677. {{استشهاد بدورية محكمة}}: الوسيط author-name-list parameters تكرر أكثر من مرة (مساعدة)

harvard.edu

ui.adsabs.harvard.edu

Binnig، G. (3 مارس 1986). "Atomic Force Microscope". Physical Review Letters. ج. 56 ع. 9: 930–933. Bibcode:1986PhRvL..56..930B. DOI:10.1103/PhysRevLett.56.930. PMID:10033323. {{استشهاد بدورية محكمة}}: الوسيط author-name-list parameters تكرر أكثر من مرة (مساعدة)
Kaiser، W. J. (1988). "Direct investigation of subsurface interface electronic structure by ballistic-electron-emission microscopy". Physical Review Letters. ج. 60 ع. 14: 1406–1409. Bibcode:1988PhRvL..60.1406K. DOI:10.1103/PhysRevLett.60.1406. PMID:10038030. {{استشهاد بدورية محكمة}}: الوسيط author-name-list parameters تكرر أكثر من مرة (مساعدة)
Zhang، L. (1999). "Nanostructural conductivity and surface-potential study of low-field-emission carbon films with conductive scanning probe microscopy". Applied Physics Letters. ج. 75 ع. 22: 3527–3529. Bibcode:1999ApPhL..75.3527Z. DOI:10.1063/1.125377. {{استشهاد بدورية محكمة}}: الوسيط author-name-list parameters تكرر أكثر من مرة (مساعدة)
Weaver، J. M. R. (1991). "High resolution atomic force microscopy potentiometry". Journal of Vacuum Science & Technology B: Microelectronics and Nanometer Structures. ج. 9 ع. 3: 1559–1561. Bibcode:1991JVSTB...9.1559W. DOI:10.1116/1.585423. {{استشهاد بدورية محكمة}}: الوسيط author-name-list parameters تكرر أكثر من مرة (مساعدة)
Meister، André؛ Gabi، Michael؛ Behr، Pascal؛ Studer، Philipp؛ Vörös، János؛ Niedermann، Philippe؛ Bitterli، Joanna؛ Polesel-Maris، Jérôme؛ Liley، Martha؛ Heinzelmann، Harry؛ Zambelli، Tomaso (2009). "FluidFM: Combining Atomic Force Microscopy and Nanofluidics in a Universal Liquid Delivery System for Single Cell Applications and Beyond". Nano Letters. ج. 9 ع. 6: 2501–2507. Bibcode:2009NanoL...9.2501M. DOI:10.1021/nl901384x. ISSN:1530-6984.
Nonnenmacher، M. (1991). "Kelvin probe force microscopy". Applied Physics Letters. ج. 58 ع. 25: 2921–2923. Bibcode:1991ApPhL..58.2921N. DOI:10.1063/1.105227. {{استشهاد بدورية محكمة}}: الوسيط author-name-list parameters تكرر أكثر من مرة (مساعدة)
Hartmann، U. (1988). "Magnetic force microscopy: Some remarks from the micromagnetic point of view". Journal of Applied Physics. ج. 64 ع. 3: 1561–1564. Bibcode:1988JAP....64.1561H. DOI:10.1063/1.341836.
Sidles، J. A. (1995). "Magnetic resonance force microscopy". Reviews of Modern Physics. ج. 67 ع. 1: 249. Bibcode:1995RvMP...67..249S. DOI:10.1103/RevModPhys.67.249. {{استشهاد بدورية محكمة}}: الوسيط |تاريخ الوصول بحاجة لـ |مسار= (مساعدة) والوسيط author-name-list parameters تكرر أكثر من مرة (مساعدة)
BETZIG، E. (22 مارس 1991). "Breaking the Diffraction Barrier: Optical Microscopy on a Nanometric Scale". Science. ج. 251 ع. 5000: 1468–1470. Bibcode:1991Sci...251.1468B. DOI:10.1126/science.251.5000.1468. PMID:17779440. مؤرشف من الأصل في 2009-03-27. اطلع عليه بتاريخ 2009-10-05. {{استشهاد بدورية محكمة}}: الوسيط author-name-list parameters تكرر أكثر من مرة (مساعدة)
Roelofs، A. (2000). "Differentiating 180° and 90° switching of ferroelectric domains with three-dimensional piezoresponse force microscopy". Applied Physics Letters. ج. 77 ع. 21: 3444–3446. Bibcode:2000ApPhL..77.3444R. DOI:10.1063/1.1328049. {{استشهاد بدورية محكمة}}: الوسيط author-name-list parameters تكرر أكثر من مرة (مساعدة)
Reddick، R. C. (1 يناير 1989). "New form of scanning optical microscopy". Physical Review B. ج. 39 ع. 1: 767. Bibcode:1989PhRvB..39..767R. DOI:10.1103/PhysRevB.39.767. مؤرشف من الأصل في 2019-12-10. اطلع عليه بتاريخ 2009-10-05. {{استشهاد بدورية محكمة}}: الوسيط author-name-list parameters تكرر أكثر من مرة (مساعدة)
Matey، J. R. (1985). "Scanning capacitance microscopy". Journal of Applied Physics. ج. 57 ع. 5: 1437–1444. Bibcode:1985JAP....57.1437M. DOI:10.1063/1.334506. {{استشهاد بدورية محكمة}}: الوسيط author-name-list parameters تكرر أكثر من مرة (مساعدة)
Eriksson، M. A. (29 يوليو 1996). "Cryogenic scanning probe characterization of semiconductor nanostructures". Applied Physics Letters. ج. 69 ع. 5: 671–673. Bibcode:1996ApPhL..69..671E. DOI:10.1063/1.117801. مؤرشف من الأصل في 2016-03-05. اطلع عليه بتاريخ 2009-10-05. {{استشهاد بدورية محكمة}}: الوسيط author-name-list parameters تكرر أكثر من مرة (مساعدة)
Chang، A. M. (1992). "Scanning Hall probe microscopy". Applied Physics Letters. ج. 61 ع. 16: 1974–1976. Bibcode:1992ApPhL..61.1974C. DOI:10.1063/1.108334. {{استشهاد بدورية محكمة}}: الوسيط author-name-list parameters تكرر أكثر من مرة (مساعدة)
Hansma، PK (3 فبراير 1989). "The scanning ion-conductance microscope". Science. ج. 243 ع. 4891: 641–643. Bibcode:1989Sci...243..641H. DOI:10.1126/science.2464851. PMID:2464851. مؤرشف من الأصل في 2008-05-26. اطلع عليه بتاريخ 2009-10-05. {{استشهاد بدورية محكمة}}: الوسيط author-name-list parameters تكرر أكثر من مرة (مساعدة)
Wiesendanger، R. (25 يوليو 2001). "Nano- and atomic-scale magnetism studied by spin-polarized scanning tunneling microscopy and spectroscopy". Solid State Communications. ج. 119 ع. 4–5: 341–355. Bibcode:2001SSCom.119..341W. DOI:10.1016/S0038-1098(01)00103-X. ISSN:0038-1098. مؤرشف من الأصل في 2020-05-26. اطلع عليه بتاريخ 2009-10-05. {{استشهاد بدورية محكمة}}: الوسيط author-name-list parameters تكرر أكثر من مرة (مساعدة)
De Wolf، P. (1995). "Characterization of a point-contact on silicon using force microscopy-supported resistance measurements". Applied Physics Letters. ج. 66 ع. 12: 1530–1532. Bibcode:1995ApPhL..66.1530D. DOI:10.1063/1.113636. {{استشهاد بدورية محكمة}}: الوسيط author-name-list parameters تكرر أكثر من مرة (مساعدة)
Xu، J. B. (1994). "Thermal sensors for investigation of heat transfer in scanning probe microscopy". Review of Scientific Instruments. ج. 65 ع. 7: 2262–2266. Bibcode:1994RScI...65.2262X. DOI:10.1063/1.1145225. {{استشهاد بدورية محكمة}}: الوسيط author-name-list parameters تكرر أكثر من مرة (مساعدة)
Binnig، G. (1982). "Tunneling through a controllable vacuum gap". Applied Physics Letters. ج. 40 ع. 2: 178–180. Bibcode:1982ApPhL..40..178B. DOI:10.1063/1.92999. {{استشهاد بدورية محكمة}}: الوسيط author-name-list parameters تكرر أكثر من مرة (مساعدة)
Trenkler، T. (1998). "Nanopotentiometry: Local potential measurements in complementary metal--oxide--semiconductor transistors using atomic force microscopy". J. Vac. Sci. Techn. B. ج. 16: 367–372. Bibcode:1998JVSTB..16..367T. DOI:10.1116/1.589812. {{استشهاد بدورية محكمة}}: الوسيط author-name-list parameters تكرر أكثر من مرة (مساعدة)

nanoworld.org

R. V. Lapshin (2011). "Feature-oriented scanning probe microscopy". في H. S. Nalwa (المحرر). Encyclopedia of Nanoscience and Nanotechnology. USA: American Scientific Publishers. ج. 14. ص. 105–115. ISBN:1-58883-163-9. مؤرشف من الأصل (PDF) في 2019-05-17.

nih.gov

pubmed.ncbi.nlm.nih.gov

Binnig، G. (3 مارس 1986). "Atomic Force Microscope". Physical Review Letters. ج. 56 ع. 9: 930–933. Bibcode:1986PhRvL..56..930B. DOI:10.1103/PhysRevLett.56.930. PMID:10033323. {{استشهاد بدورية محكمة}}: الوسيط author-name-list parameters تكرر أكثر من مرة (مساعدة)
Kaiser، W. J. (1988). "Direct investigation of subsurface interface electronic structure by ballistic-electron-emission microscopy". Physical Review Letters. ج. 60 ع. 14: 1406–1409. Bibcode:1988PhRvL..60.1406K. DOI:10.1103/PhysRevLett.60.1406. PMID:10038030. {{استشهاد بدورية محكمة}}: الوسيط author-name-list parameters تكرر أكثر من مرة (مساعدة)
BETZIG، E. (22 مارس 1991). "Breaking the Diffraction Barrier: Optical Microscopy on a Nanometric Scale". Science. ج. 251 ع. 5000: 1468–1470. Bibcode:1991Sci...251.1468B. DOI:10.1126/science.251.5000.1468. PMID:17779440. مؤرشف من الأصل في 2009-03-27. اطلع عليه بتاريخ 2009-10-05. {{استشهاد بدورية محكمة}}: الوسيط author-name-list parameters تكرر أكثر من مرة (مساعدة)
Hansma، PK (3 فبراير 1989). "The scanning ion-conductance microscope". Science. ج. 243 ع. 4891: 641–643. Bibcode:1989Sci...243..641H. DOI:10.1126/science.2464851. PMID:2464851. مؤرشف من الأصل في 2008-05-26. اطلع عليه بتاريخ 2009-10-05. {{استشهاد بدورية محكمة}}: الوسيط author-name-list parameters تكرر أكثر من مرة (مساعدة)

sciencedirect.com

Wiesendanger، R. (25 يوليو 2001). "Nano- and atomic-scale magnetism studied by spin-polarized scanning tunneling microscopy and spectroscopy". Solid State Communications. ج. 119 ع. 4–5: 341–355. Bibcode:2001SSCom.119..341W. DOI:10.1016/S0038-1098(01)00103-X. ISSN:0038-1098. مؤرشف من الأصل في 2020-05-26. اطلع عليه بتاريخ 2009-10-05. {{استشهاد بدورية محكمة}}: الوسيط author-name-list parameters تكرر أكثر من مرة (مساعدة)

sciencemag.org

science.sciencemag.org

BETZIG، E. (22 مارس 1991). "Breaking the Diffraction Barrier: Optical Microscopy on a Nanometric Scale". Science. ج. 251 ع. 5000: 1468–1470. Bibcode:1991Sci...251.1468B. DOI:10.1126/science.251.5000.1468. PMID:17779440. مؤرشف من الأصل في 2009-03-27. اطلع عليه بتاريخ 2009-10-05. {{استشهاد بدورية محكمة}}: الوسيط author-name-list parameters تكرر أكثر من مرة (مساعدة)
Hansma، PK (3 فبراير 1989). "The scanning ion-conductance microscope". Science. ج. 243 ع. 4891: 641–643. Bibcode:1989Sci...243..641H. DOI:10.1126/science.2464851. PMID:2464851. مؤرشف من الأصل في 2008-05-26. اطلع عليه بتاريخ 2009-10-05. {{استشهاد بدورية محكمة}}: الوسيط author-name-list parameters تكرر أكثر من مرة (مساعدة)

springerlink.com

Volker Rose, John W. Freeland, Stephen K. Streiffer (2011). "New Capabilities at the Interface of X-Rays and Scanning Tunneling Microscopy". في Kalinin, Sergei V.; Gruverman, Alexei (Eds.) (المحرر). Scanning Probe Microscopy of Functional Materials: Nanoscale Imaging and Spectroscopy (ط. 1st). New York: Springer. ص. 405–431. DOI:10.1007/978-1-4419-7167-8_14. ISBN:978-1-4419-6567-7. مؤرشف من الأصل في 10 مايو 2020. اطلع عليه بتاريخ أكتوبر 2020. {{استشهاد بكتاب}}: تحقق من التاريخ في: |تاريخ الوصول= (مساعدة)صيانة الاستشهاد: أسماء متعددة: قائمة المؤلفين (link)

uni-ulm.de

wwwex.physik.uni-ulm.de

Weiterleitung ^{[وصلة مكسورة]} نسخة محفوظة 24 فبراير 2014 على موقع واي باك مشين.

web.archive.org

Higgins، S. R. (1996-03). "Morphology and dissolution processes of metal sulfide minerals observed with the electrochemical scanning tunneling microscope". J. Vac. Sci. Technol. B. AVS. ج. 14. ص. 1360–1364. DOI:10.1116/1.589098. مؤرشف من الأصل في 5 مارس 2016. اطلع عليه بتاريخ 2009-10-05. {{استشهاد بمنشورات مؤتمر}}: تحقق من التاريخ في: |تاريخ= (مساعدة) والوسيط author-name-list parameters تكرر أكثر من مرة (مساعدة)
Fritz، M. (1994-05). "Visualization and identification of intracellular structures by force modulation microscopy and drug induced degradation". The 1993 international conference on scanning tunneling microscopy. Beijing, China: AVS. ج. 12. ص. 1526–1529. DOI:10.1116/1.587278. مؤرشف من الأصل في 5 مارس 2016. اطلع عليه بتاريخ 2009-10-05. {{استشهاد بمنشورات مؤتمر}}: تحقق من التاريخ في: |تاريخ= (مساعدة)، الوسيط |عنوان المؤتمر= و|عنوان الكتاب= تكرر أكثر من مرة (مساعدة)، والوسيط author-name-list parameters تكرر أكثر من مرة (مساعدة)
R. V. Lapshin (2011). "Feature-oriented scanning probe microscopy". في H. S. Nalwa (المحرر). Encyclopedia of Nanoscience and Nanotechnology. USA: American Scientific Publishers. ج. 14. ص. 105–115. ISBN:1-58883-163-9. مؤرشف من الأصل (PDF) في 2019-05-17.
BETZIG، E. (22 مارس 1991). "Breaking the Diffraction Barrier: Optical Microscopy on a Nanometric Scale". Science. ج. 251 ع. 5000: 1468–1470. Bibcode:1991Sci...251.1468B. DOI:10.1126/science.251.5000.1468. PMID:17779440. مؤرشف من الأصل في 2009-03-27. اطلع عليه بتاريخ 2009-10-05. {{استشهاد بدورية محكمة}}: الوسيط author-name-list parameters تكرر أكثر من مرة (مساعدة)
Reddick، R. C. (1 يناير 1989). "New form of scanning optical microscopy". Physical Review B. ج. 39 ع. 1: 767. Bibcode:1989PhRvB..39..767R. DOI:10.1103/PhysRevB.39.767. مؤرشف من الأصل في 2019-12-10. اطلع عليه بتاريخ 2009-10-05. {{استشهاد بدورية محكمة}}: الوسيط author-name-list parameters تكرر أكثر من مرة (مساعدة)
Eriksson، M. A. (29 يوليو 1996). "Cryogenic scanning probe characterization of semiconductor nanostructures". Applied Physics Letters. ج. 69 ع. 5: 671–673. Bibcode:1996ApPhL..69..671E. DOI:10.1063/1.117801. مؤرشف من الأصل في 2016-03-05. اطلع عليه بتاريخ 2009-10-05. {{استشهاد بدورية محكمة}}: الوسيط author-name-list parameters تكرر أكثر من مرة (مساعدة)
Hansma، PK (3 فبراير 1989). "The scanning ion-conductance microscope". Science. ج. 243 ع. 4891: 641–643. Bibcode:1989Sci...243..641H. DOI:10.1126/science.2464851. PMID:2464851. مؤرشف من الأصل في 2008-05-26. اطلع عليه بتاريخ 2009-10-05. {{استشهاد بدورية محكمة}}: الوسيط author-name-list parameters تكرر أكثر من مرة (مساعدة)
Wiesendanger، R. (25 يوليو 2001). "Nano- and atomic-scale magnetism studied by spin-polarized scanning tunneling microscopy and spectroscopy". Solid State Communications. ج. 119 ع. 4–5: 341–355. Bibcode:2001SSCom.119..341W. DOI:10.1016/S0038-1098(01)00103-X. ISSN:0038-1098. مؤرشف من الأصل في 2020-05-26. اطلع عليه بتاريخ 2009-10-05. {{استشهاد بدورية محكمة}}: الوسيط author-name-list parameters تكرر أكثر من مرة (مساعدة)
Weiterleitung ^{[وصلة مكسورة]} نسخة محفوظة 24 فبراير 2014 على موقع واي باك مشين.
Volker Rose, John W. Freeland, Stephen K. Streiffer (2011). "New Capabilities at the Interface of X-Rays and Scanning Tunneling Microscopy". في Kalinin, Sergei V.; Gruverman, Alexei (Eds.) (المحرر). Scanning Probe Microscopy of Functional Materials: Nanoscale Imaging and Spectroscopy (ط. 1st). New York: Springer. ص. 405–431. DOI:10.1007/978-1-4419-7167-8_14. ISBN:978-1-4419-6567-7. مؤرشف من الأصل في 10 مايو 2020. اطلع عليه بتاريخ أكتوبر 2020. {{استشهاد بكتاب}}: تحقق من التاريخ في: |تاريخ الوصول= (مساعدة)صيانة الاستشهاد: أسماء متعددة: قائمة المؤلفين (link)
Advanced Technologies Center - Advanced Technologies Center نسخة محفوظة 23 يونيو 2018 على موقع واي باك مشين.

worldcat.org

Meister، André؛ Gabi، Michael؛ Behr، Pascal؛ Studer، Philipp؛ Vörös، János؛ Niedermann، Philippe؛ Bitterli، Joanna؛ Polesel-Maris، Jérôme؛ Liley، Martha؛ Heinzelmann، Harry؛ Zambelli، Tomaso (2009). "FluidFM: Combining Atomic Force Microscopy and Nanofluidics in a Universal Liquid Delivery System for Single Cell Applications and Beyond". Nano Letters. ج. 9 ع. 6: 2501–2507. Bibcode:2009NanoL...9.2501M. DOI:10.1021/nl901384x. ISSN:1530-6984.
Wiesendanger، R. (25 يوليو 2001). "Nano- and atomic-scale magnetism studied by spin-polarized scanning tunneling microscopy and spectroscopy". Solid State Communications. ج. 119 ع. 4–5: 341–355. Bibcode:2001SSCom.119..341W. DOI:10.1016/S0038-1098(01)00103-X. ISSN:0038-1098. مؤرشف من الأصل في 2020-05-26. اطلع عليه بتاريخ 2009-10-05. {{استشهاد بدورية محكمة}}: الوسيط author-name-list parameters تكرر أكثر من مرة (مساعدة)