Microscopi electrònic de transmissió (Catalan Wikipedia)

Analysis of information sources in references of the Wikipedia article "Microscopi electrònic de transmissió" in Catalan language version.

refsWebsite

Global rank Catalan rank

2web.archive.org

1^st place

1^st place

2^nd place

6^th place

1,308^th place

634^th place

2,869^th place

4,369^th place

4,448^th place

5,302^nd place

69^th place

186^th place

4^th place

7^th place

887^th place

617^th place

low place

low place

arxiv.org

Inada, H; Su, D; Egerton, RF; et al «Atomic imaging using secondary electrons in a scanning transmission electron microscope: experimental observations and possible mechanisms» (en anglès). Ultramicroscopy, 2011 Jun; 111 (7), pp. 865-876. DOI: 10.1016/j.ultramic.2010.10.002. PMID: 21185651 [Consulta: 21 desembre 2015].

caltech.edu

authors.library.caltech.edu

Hessenbruch, A «Electron microscopy» (en anglès). History of Recent Science&Technology, 2001. Dibner Institute for the History of Science and Technology [Consulta: 21 desembre 2015].

doi.org

dx.doi.org

Wang, ZL «New Developments in Transmission Electron Microscopy for Nanotechnology» (en anglès). Adv. Mater, 2003 Sep; 15 (18), pp. 1497–1514. DOI: 10.1002/adma.200300384 [Consulta: 21 desembre 2015].
Inada, H; Su, D; Egerton, RF; et al «Atomic imaging using secondary electrons in a scanning transmission electron microscope: experimental observations and possible mechanisms» (en anglès). Ultramicroscopy, 2011 Jun; 111 (7), pp. 865-876. DOI: 10.1016/j.ultramic.2010.10.002. PMID: 21185651 [Consulta: 21 desembre 2015].

fz-juelich.de

Kovács, A; Luysberg, M «Transmission Electron Microscopy» (en anglès). PGI-5. Forschungszentrum Jülich, 2009. Ernst Ruska-Centre for Microscopy and Spectroscopy with Electrons, Peter Grünberg Institute, pp. 3. Arxivat de l'original el 6 de gener 2016 [Consulta: 21 desembre 2015].

gatech.edu

nanoscience.gatech.edu

Wang, ZL «New Developments in Transmission Electron Microscopy for Nanotechnology» (en anglès). Adv. Mater, 2003 Sep; 15 (18), pp. 1497–1514. DOI: 10.1002/adma.200300384 [Consulta: 21 desembre 2015].

hawaii.edu

soest.hawaii.edu

Zinin, Pavel V «Transmission Electron Microscope. Lecture 14» (en anglès). GG 711: Advanced Techniques in Geophysics and Materials Science, 2011. HIGP, University of Hawaii, Honolulu, USA [Consulta: 21 desembre 2015].

hu-berlin.de

crysta.physik.hu-berlin.de

Kirmse, H; Mogilatenko, A «Transmission electron microscopy in materials science. Lecture» (en anglès). Teaching. Humboldt-Universität zu Berlin, 2012. Institut für Physik, AG Kristallographie. Arxivat de l'original el 22 de desembre 2015 [Consulta: 21 desembre 2015].

nih.gov

ncbi.nlm.nih.gov

Inada, H; Su, D; Egerton, RF; et al «Atomic imaging using secondary electrons in a scanning transmission electron microscope: experimental observations and possible mechanisms» (en anglès). Ultramicroscopy, 2011 Jun; 111 (7), pp. 865-876. DOI: 10.1016/j.ultramic.2010.10.002. PMID: 21185651 [Consulta: 21 desembre 2015].

web.archive.org

Kirmse, H; Mogilatenko, A «Transmission electron microscopy in materials science. Lecture» (en anglès). Teaching. Humboldt-Universität zu Berlin, 2012. Institut für Physik, AG Kristallographie. Arxivat de l'original el 22 de desembre 2015 [Consulta: 21 desembre 2015].
Kovács, A; Luysberg, M «Transmission Electron Microscopy» (en anglès). PGI-5. Forschungszentrum Jülich, 2009. Ernst Ruska-Centre for Microscopy and Spectroscopy with Electrons, Peter Grünberg Institute, pp. 3. Arxivat de l'original el 6 de gener 2016 [Consulta: 21 desembre 2015].