Patent DE69521153T2: Bildverarbeitungsvorrichtung und Verfahren zur Detektion eines Referenzmusters. Angemeldet am 20. Januar 1994, veröffentlicht am 8. September 1999, Anmelder: Omron Corporation, Erfinder: Katoh Mitsutaka et al. (Übersetzung der gleichlautenden europäischen Patentschrift EP940780B1).
