Peer Löbmann: Characterization of sol–gel thin films by ellipsometric porosimetry. In: Journal of Sol-Gel Science and Technology. Band84, Nr.1, 1. Oktober 2017, S.2–15, doi:10.1007/s10971-017-4473-1.
Tim Käseberg, Jana Grundmann, Thomas Siefke, Stefanie Kroker und Bernd Bodermann: Abbildende Müller-Matrix-Ellipsometrie für die Charakterisierung vereinzelter Nanostrukturen. In: Technisches Messen. März 2022, S.439–446 (researchgate.net).
spektrum.de
Ellipsometrie. Lexikon der Physik, 1998, abgerufen am 3. Juni 2024.