Focused Ion Beam (German Wikipedia)
Analysis of information sources in references of the Wikipedia article "Focused Ion Beam" in German language version.
refsWebsite
Global rank
German rank
low place
low place
low place
low place
1st place
1st place
IABotdeadurl.invalid
- Funktionsbeschreibung des Helium-Ionen-Mikroskops mit Ausblicken auf das FIB (Seite nicht mehr abrufbar, festgestellt im April 2018. Suche in Webarchiven) Info: Der Link wurde automatisch als defekt markiert. Bitte prüfe den Link gemäß Anleitung und entferne dann diesen Hinweis. (PDF; 309 kB)
doi.org
- I.P. Jain, Garima Agarwal: Ion beam induced surface and interface engineering. In: Surface Science Reports. Band 66, Nr. 3-4, März 2011, S. 77–172, doi:10.1016/j.surfrep.2010.11.001.
- Ping Li, Siyu Chen, Houfu Dai, Zhengmei Yang, Zhiquan Chen: Recent advances in focused ion beam nanofabrication for nanostructures and devices: fundamentals and applications. In: Nanoscale. Band 13, Nr. 3, 2021, S. 1529–1565, doi:10.1039/D0NR07539F.
fei.com
photonik.de
- Funktionsbeschreibung des Helium-Ionen-Mikroskops mit Ausblicken auf das FIB (Seite nicht mehr abrufbar, festgestellt im April 2018. Suche in Webarchiven) Info: Der Link wurde automatisch als defekt markiert. Bitte prüfe den Link gemäß Anleitung und entferne dann diesen Hinweis. (PDF; 309 kB)
web.archive.org
- Funktionsbeschreibung des Helium-Ionen-Mikroskops mit Ausblicken auf das FIB (Seite nicht mehr abrufbar, festgestellt im April 2018. Suche in Webarchiven) Info: Der Link wurde automatisch als defekt markiert. Bitte prüfe den Link gemäß Anleitung und entferne dann diesen Hinweis. (PDF; 309 kB)