Rasterelektronenmikroskop (German Wikipedia)

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Robert Frömter, Sebastian Hankemeier, Hans Peter Oepen, Jürgen Kirschner: Optimizing a low-energy electron diffraction spin-polarization analyzer for imaging of magnetic surface structures. In: Review of Scientific Instruments. Band 82, Nr. 3, 2011, doi:10.1063/1.3534832.
Fabian Lofink, Sebastian Hankemeier, Robert Frömter, Jürgen Kirschner, Hans Peter Oepen: Long-time stability of a low-energy electron diffraction spin polarization analyzer for magnetic imaging. In: Review of Scientific Instruments. Band 83, Nr. 2, 2012, doi:10.1063/1.3685629.

Upgrade Info AsB Detector (Memento vom 10. September 2016 im Internet Archive). Carl Zeiss Microscopy GmbH. Abgerufen am 26. Dezember 2018.

Hochauflösendes Rasterelektronenmikroskop (REM). (PDF; 99 kB) Kompetenzzentrum Werkstoffe der Mikroelektronik, Universität Ulm, abgerufen am 23. März 2010.