Focused Ion Beam (Spanish Wikipedia)

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«Large volume serial section tomography by Xe Plasma FIB dual beam microscopy». Ultramicroscopy (en inglés) 161: 119-129. 1 de febrero de 2016. ISSN 0304-3991. doi:10.1016/j.ultramic.2015.11.001. Consultado el 22 de septiembre de 2021.

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