Donovan, R.P. (2001). «1. Introduction». En Donovan, R.P., ed. Contamination-Free Manufacturing for Semiconductors and Other Precision Products. CRC Press. pp. 1-3. ISBN9780824703806. Archivado desde el original el 8 de febrero de 2020. Consultado el 15 de julio de 2019.
Ramstorp, M. (2008). «2. Contaminants». Introduction to Contamination Control and Cleanroom Technology. John Wiley & Sons. pp. 20-26. ISBN9783527613137. Archivado desde el original el 8 de febrero de 2020. Consultado el 15 de julio de 2019.
Donovan, R.P. (2001). «1. Introduction». En Donovan, R.P., ed. Contamination-Free Manufacturing for Semiconductors and Other Precision Products. CRC Press. pp. 1-3. ISBN9780824703806. Archivado desde el original el 8 de febrero de 2020. Consultado el 15 de julio de 2019.
Ramstorp, M. (2008). «2. Contaminants». Introduction to Contamination Control and Cleanroom Technology. John Wiley & Sons. pp. 20-26. ISBN9783527613137. Archivado desde el original el 8 de febrero de 2020. Consultado el 15 de julio de 2019.