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H. Störmer, E. Ivers-Tiffée, C. Schnitter et D. Gerthsen, « Microstructure and dielectric properties of nanoscale oxide layers on sintered capacitor-grade niobium and V-doped niobium powder compacts », International Journal of Materials Research, vol. 97, no 6, , p. 794–801 (ISSN2195-8556 et 1862-5282, DOI10.3139/146.101305, lire en ligne, consulté le )
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