(en) M. Pignatari, R. Straniero et O. Davis, « The origin of xenon trapped in presolar mainstream SiC grains », Mem. S.A.It., vol. 75, no 4, , p. 729-734 (ISSN0037-8720 et 1824-016X, lire en ligne)
(en) N. Ackerman, « Observation of Two-Neutrino Double-Beta Decay in ^{136}Xe with the EXO-200 Detector », Physical Review Letters, vol. 107, no 21, (DOI10.1103/PhysRevLett.107.212501)
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