Kapacitás-feszültség mérés (Hungarian Wikipedia)

Analysis of information sources in references of the Wikipedia article "Kapacitás-feszültség mérés" in Hungarian language version.

refsWebsite

Global rank Hungarian rank

5^th place

22^nd place

2web.archive.org

1^st place

1^st place

2,526^th place

4,623^rd place

low place

low place

2^nd place

8^th place

1scientific-devices.com.au

low place

low place

colorado.edu

ecee.colorado.edu

6.6 The MOS Capacitance. ecee.colorado.edu. [2018. szeptember 30-i dátummal az eredetiből archiválva]. (Hozzáférés: 2019. január 23.)
6.5 Analysis of the MOS capacitor. ecee.colorado.edu. [2018. szeptember 30-i dátummal az eredetiből archiválva]. (Hozzáférés: 2019. január 23.)

doi.org

dx.doi.org

MOSCAP szimulátor 2014. MOSCAP C-V görbe szimulátor: Akira Matsudaira, Saumitra Raj Mehrotra, Shaikh S. Ahmed, Gerhard Klimeck, Dragica Vasileska (2014. július 23.). „MOSCap”, Kiadó: nanoHUB. DOI:10.21981/D3736M30D.

nanohub.org

MOSCAP szimulátor 2014. MOSCAP C-V görbe szimulátor: Akira Matsudaira, Saumitra Raj Mehrotra, Shaikh S. Ahmed, Gerhard Klimeck, Dragica Vasileska (2014. július 23.). „MOSCap”, Kiadó: nanoHUB. DOI:10.21981/D3736M30D.

scientific-devices.com.au

Lee Stauffer. Fundamentals of Semiconductor C-V Measurements. Keithley Instruments Inc. (2009. február). Hozzáférés ideje: 2019. január 22.

web.archive.org

6.6 The MOS Capacitance. ecee.colorado.edu. [2018. szeptember 30-i dátummal az eredetiből archiválva]. (Hozzáférés: 2019. január 23.)
6.5 Analysis of the MOS capacitor. ecee.colorado.edu. [2018. szeptember 30-i dátummal az eredetiből archiválva]. (Hozzáférés: 2019. január 23.)

worldcat.org

Schroder 2006, 61. o. Dieter K. Schroder. Semiconductor material and device characterization (angol nyelven). IEEE Press Wiley (2006). ISBN 978-0-471-73906-7. OCLC 163140623
Schroder 2006, 62. o. Dieter K. Schroder. Semiconductor material and device characterization (angol nyelven). IEEE Press Wiley (2006). ISBN 978-0-471-73906-7. OCLC 163140623