Metodo di van der Pauw (Italian Wikipedia)

Analysis of information sources in references of the Wikipedia article "Metodo di van der Pauw" in Italian language version.

refsWebsite

Global rank Italian rank

2^nd place

7^th place

2web.archive.org

1^st place

1^st place

610^th place

820^th place

low place

low place

4,352^nd place

4,113^th place

1sciencedirect.com

149^th place

298^th place

9,263^rd place

low place

6^th place

8^th place

archive.org

S.M. Sze, Semiconductor Devices: Physics and Technology, New York, Wiley, 2001, p. 53, ISBN 0-471-33372-7.

doi.org

dx.doi.org

Toru Matsumura e Yuichi Sato, A Theoretical Study on Van Der Pauw Measurement Values of Inhomogeneous Compound Semiconductor Thin Films, in Journal of Modern Physics, vol. 01, n. 05, 2010, pp. 340–347, DOI:10.4236/jmp.2010.15048. URL consultato il 25 marzo 2022.
(EN) Oliver Bierwagen, Tommy Ive e Chris G. Van de Walle, Causes of incorrect carrier-type identification in van der Pauw–Hall measurements, in Applied Physics Letters, vol. 93, n. 24, 15 dicembre 2008, pp. 242108, DOI:10.1063/1.3052930. URL consultato il 25 marzo 2022.
(EN) Jonathan D. Weiss, Generalization of the van der Pauw relationship derived from electrostatics, in Solid-State Electronics, vol. 62, n. 1, 2011-08, pp. 123–127, DOI:10.1016/j.sse.2011.04.006. URL consultato il 25 marzo 2022.
(EN) Ronald Chwang, B. J. Smith e C. R. Crowell, Contact size effects on the van der Pauw method for resistivity and Hall coefficient measurement, in Solid-State Electronics, vol. 17, n. 12, 1º dicembre 1974, pp. 1217–1227, DOI:10.1016/0038-1101(74)90001-X. URL consultato il 25 marzo 2022.
(EN) A.A. Ramadan, R.D. Gould e A. Ashour, On the Van der Pauw method of resistivity measurements, in Thin Solid Films, vol. 239, n. 2, 1994-03, pp. 272–275, DOI:10.1016/0040-6090(94)90863-X. URL consultato il 25 marzo 2022.

du.edu

Reciprocity Archiviato il 30 giugno 2006 in Internet Archive.

elsevier.com

linkinghub.elsevier.com

(EN) Jonathan D. Weiss, Generalization of the van der Pauw relationship derived from electrostatics, in Solid-State Electronics, vol. 62, n. 1, 2011-08, pp. 123–127, DOI:10.1016/j.sse.2011.04.006. URL consultato il 25 marzo 2022.
(EN) A.A. Ramadan, R.D. Gould e A. Ashour, On the Van der Pauw method of resistivity measurements, in Thin Solid Films, vol. 239, n. 2, 1994-03, pp. 272–275, DOI:10.1016/0040-6090(94)90863-X. URL consultato il 25 marzo 2022.

sciencedirect.com

(EN) Ronald Chwang, B. J. Smith e C. R. Crowell, Contact size effects on the van der Pauw method for resistivity and Hall coefficient measurement, in Solid-State Electronics, vol. 17, n. 12, 1º dicembre 1974, pp. 1217–1227, DOI:10.1016/0038-1101(74)90001-X. URL consultato il 25 marzo 2022.

scirp.org

Toru Matsumura e Yuichi Sato, A Theoretical Study on Van Der Pauw Measurement Values of Inhomogeneous Compound Semiconductor Thin Films, in Journal of Modern Physics, vol. 01, n. 05, 2010, pp. 340–347, DOI:10.4236/jmp.2010.15048. URL consultato il 25 marzo 2022.

scitation.org

aip.scitation.org

(EN) Oliver Bierwagen, Tommy Ive e Chris G. Van de Walle, Causes of incorrect carrier-type identification in van der Pauw–Hall measurements, in Applied Physics Letters, vol. 93, n. 24, 15 dicembre 2008, pp. 242108, DOI:10.1063/1.3052930. URL consultato il 25 marzo 2022.

web.archive.org

L.J. Van der Pauw, A method of measuring specific resistivity and Hall effect of discs of arbitrary shape (PDF), in Philips Research Reports, vol. 13, 1958, pp. 1–9. URL consultato il 19 febbraio 2011 (archiviato dall'url originale il 23 agosto 2009).)
Reciprocity Archiviato il 30 giugno 2006 in Internet Archive.