Björkman T., Kurasch S., Lehtinen O., Kotakoski J., Yazyev O. V., Srivastava A., Skakalova V., Smet J. H., Kaiser U., Krasheninnikov A. V. Defects in bilayer silica and graphene: common trends in diverse hexagonal two-dimensional systems (англ.) // Scientific Reports[англ.] : journal. — 2013. — Vol. 3. — P. 3482. — doi:10.1038/srep03482. — Bibcode: 2013NatSR...3E3482B. — PMID24336488. — PMC3863822.
Björkman T., Kurasch S., Lehtinen O., Kotakoski J., Yazyev O. V., Srivastava A., Skakalova V., Smet J. H., Kaiser U., Krasheninnikov A. V. Defects in bilayer silica and graphene: common trends in diverse hexagonal two-dimensional systems (англ.) // Scientific Reports[англ.] : journal. — 2013. — Vol. 3. — P. 3482. — doi:10.1038/srep03482. — Bibcode: 2013NatSR...3E3482B. — PMID24336488. — PMC3863822.
nih.gov
ncbi.nlm.nih.gov
Björkman T., Kurasch S., Lehtinen O., Kotakoski J., Yazyev O. V., Srivastava A., Skakalova V., Smet J. H., Kaiser U., Krasheninnikov A. V. Defects in bilayer silica and graphene: common trends in diverse hexagonal two-dimensional systems (англ.) // Scientific Reports[англ.] : journal. — 2013. — Vol. 3. — P. 3482. — doi:10.1038/srep03482. — Bibcode: 2013NatSR...3E3482B. — PMID24336488. — PMC3863822.
wikipedia.org
en.wikipedia.org
Björkman T., Kurasch S., Lehtinen O., Kotakoski J., Yazyev O. V., Srivastava A., Skakalova V., Smet J. H., Kaiser U., Krasheninnikov A. V. Defects in bilayer silica and graphene: common trends in diverse hexagonal two-dimensional systems (англ.) // Scientific Reports[англ.] : journal. — 2013. — Vol. 3. — P. 3482. — doi:10.1038/srep03482. — Bibcode: 2013NatSR...3E3482B. — PMID24336488. — PMC3863822.