Магнитно-силовая микроскопия (Russian Wikipedia)

Analysis of information sources in references of the Wikipedia article "Магнитно-силовая микроскопия" in Russian language version.

refsWebsite

Global rank Russian rank

10web.archive.org

1^st place

9doi.org

2^nd place

3^rd place

7harvard.edu

18^th place

63^rd place

1books.google.com

3^rd place

10^th place

1zenodo.org

621^st place

3,286^th place

1nanoscan.ch

low place

1caltech.edu

887^th place

1,293^rd place

1semanticscholar.org

11^th place

286^th place

1azom.com

low place

1unl.edu

1,708^th place

4,092^nd place

1northwestern.edu

2,302^nd place

4,328^th place

1193.121

low place

1ntmdt-si.com

low place

1hitachi-hitec-science.com

low place

1scitation.org

4,352^nd place

3,869^th place

193.121

164.67.193.121

I. Alvarado, «Procedure to Perform Magnetic Force Microscopy (MFM) with VEECO Dimension 3100 AFM», NRF, 2006 Архивировано 29 мая 2011 года.

azom.com

History of Probing Methods (неопр.). Дата обращения: 30 марта 2023. Архивировано 30 марта 2023 года.

books.google.com

D. Jiles. 15 // Introduction to Magnetism and Magnetic Materials. — 2. — Springer, 1998. — ISBN 3-540-40186-5.

caltech.edu

mechmat.caltech.edu

Magnetic Force Microscopy Архивировано {{{2}}}.

doi.org

L. Abelmann (1998). "Comparing the resolution of magnetic force microscopes using the CAMST reference samples". J. Magn. Magn. Mater. 190 (1—2): 135—147. Bibcode:1998JMMM..190..135A. doi:10.1016/S0304-8853(98)00281-9. Архивировано 30 марта 2023. Дата обращения: 30 марта 2023.
Y. Martin (1987). "Magnetic Imaging by Force Microscopy with 1000A Resolution". Appl. Phys. Lett. 50 (20): 1455—1457. Bibcode:1987ApPhL..50.1455M. doi:10.1063/1.97800.
U. Hartmann (1999). "Magnetic Force Microscopy". Annu. Rev. Mater. Sci. 29: 53—87. Bibcode:1999AnRMS..29...53H. doi:10.1146/annurev.matsci.29.1.53.
L. Gao (2004). "Focused Ion Beam Milled CoPt Magnetic Force Microscopy Tips for High Resolution Domain Images". IEEE Transactions on Magnetics. 40 (4): 2194—2196. Bibcode:2004ITM....40.2194G. doi:10.1109/TMAG.2004.829173. Архивировано 10 мая 2022. Дата обращения: 30 марта 2023.
A. Winkler (2006). "Magnetic Force Microscopy Sensors using Iron-filled Carbon Nanotubes". J. Appl. Phys. 99 (10): 104905–104905–5. Bibcode:2006JAP....99j4905W. doi:10.1063/1.2195879.
K. Tanaka (2009). "High-Resolution Magnetic Force Microscopy Using Carbon Nanotube Probes Fabricated Directly by Microwave Plasma-Enhanced Chemical Vapor Deposition". Journal of Nanomaterials. 2009. doi:10.1155/2009/147204.{{cite journal}}: Википедия:Обслуживание CS1 (не помеченный открытым DOI) (ссылка)
R. Gomez (1996). "Magnetic Imaging in the Presence of External Fields: Technique and Applications". J. Appl. Phys. 79 (8): 6441—6446. Bibcode:1996JAP....79.6441G. doi:10.1063/1.361966.
Gama, Sergio (2016). "Analytic and Experimental Analysis of Magnetic Force Equations". IEEE Transactions on Magnetics (англ.). 52 (7): 1—4. doi:10.1109/tmag.2016.2517127.
D. Rugar (1990). "Magnetic Force Microscopy: General Principles and Application to Longitudinal Recording Media". J. Appl. Phys. 68 (3): 1169—1183. Bibcode:1990JAP....68.1169R. doi:10.1063/1.346713.

harvard.edu

ui.adsabs.harvard.edu

L. Abelmann (1998). "Comparing the resolution of magnetic force microscopes using the CAMST reference samples". J. Magn. Magn. Mater. 190 (1—2): 135—147. Bibcode:1998JMMM..190..135A. doi:10.1016/S0304-8853(98)00281-9. Архивировано 30 марта 2023. Дата обращения: 30 марта 2023.
Y. Martin (1987). "Magnetic Imaging by Force Microscopy with 1000A Resolution". Appl. Phys. Lett. 50 (20): 1455—1457. Bibcode:1987ApPhL..50.1455M. doi:10.1063/1.97800.
U. Hartmann (1999). "Magnetic Force Microscopy". Annu. Rev. Mater. Sci. 29: 53—87. Bibcode:1999AnRMS..29...53H. doi:10.1146/annurev.matsci.29.1.53.
L. Gao (2004). "Focused Ion Beam Milled CoPt Magnetic Force Microscopy Tips for High Resolution Domain Images". IEEE Transactions on Magnetics. 40 (4): 2194—2196. Bibcode:2004ITM....40.2194G. doi:10.1109/TMAG.2004.829173. Архивировано 10 мая 2022. Дата обращения: 30 марта 2023.
A. Winkler (2006). "Magnetic Force Microscopy Sensors using Iron-filled Carbon Nanotubes". J. Appl. Phys. 99 (10): 104905–104905–5. Bibcode:2006JAP....99j4905W. doi:10.1063/1.2195879.
R. Gomez (1996). "Magnetic Imaging in the Presence of External Fields: Technique and Applications". J. Appl. Phys. 79 (8): 6441—6446. Bibcode:1996JAP....79.6441G. doi:10.1063/1.361966.
D. Rugar (1990). "Magnetic Force Microscopy: General Principles and Application to Longitudinal Recording Media". J. Appl. Phys. 68 (3): 1169—1183. Bibcode:1990JAP....68.1169R. doi:10.1063/1.346713.

hitachi-hitec-science.com

[1] Архивировано 21 июля 2013 года.

nanoscan.ch

Nanoscan AG, Quantum Leap in Hard Disk Technology (неопр.). Дата обращения: 30 марта 2023. Архивировано 7 октября 2011 года.

northwestern.edu

nuance-dev.tech.northwestern.edu

Magnetic Force Microscopy (MFM) manual (неопр.). Дата обращения: 30 марта 2023. Архивировано 12 января 2016 года.

ntmdt-si.com

Cantilever Analysis (неопр.). Дата обращения: 30 марта 2023. Архивировано 22 февраля 2018 года.

scitation.org

aip.scitation.org

Point-dipole response from a magnetic force microscopy tip with a synthetic antiferromagnetic coating (неопр.). Дата обращения: 30 марта 2023. Архивировано 30 марта 2023 года.

semanticscholar.org

U. Hartmann (1999). "Magnetic Force Microscopy". Annu. Rev. Mater. Sci. 29: 53—87. Bibcode:1999AnRMS..29...53H. doi:10.1146/annurev.matsci.29.1.53.

unl.edu

digitalcommons.unl.edu

L. Gao (2004). "Focused Ion Beam Milled CoPt Magnetic Force Microscopy Tips for High Resolution Domain Images". IEEE Transactions on Magnetics. 40 (4): 2194—2196. Bibcode:2004ITM....40.2194G. doi:10.1109/TMAG.2004.829173. Архивировано 10 мая 2022. Дата обращения: 30 марта 2023.

web.archive.org

L. Abelmann (1998). "Comparing the resolution of magnetic force microscopes using the CAMST reference samples". J. Magn. Magn. Mater. 190 (1—2): 135—147. Bibcode:1998JMMM..190..135A. doi:10.1016/S0304-8853(98)00281-9. Архивировано 30 марта 2023. Дата обращения: 30 марта 2023.
Nanoscan AG, Quantum Leap in Hard Disk Technology (неопр.). Дата обращения: 30 марта 2023. Архивировано 7 октября 2011 года.
Magnetic Force Microscopy Архивировано {{{2}}}.
History of Probing Methods (неопр.). Дата обращения: 30 марта 2023. Архивировано 30 марта 2023 года.
L. Gao (2004). "Focused Ion Beam Milled CoPt Magnetic Force Microscopy Tips for High Resolution Domain Images". IEEE Transactions on Magnetics. 40 (4): 2194—2196. Bibcode:2004ITM....40.2194G. doi:10.1109/TMAG.2004.829173. Архивировано 10 мая 2022. Дата обращения: 30 марта 2023.
Magnetic Force Microscopy (MFM) manual (неопр.). Дата обращения: 30 марта 2023. Архивировано 12 января 2016 года.
I. Alvarado, «Procedure to Perform Magnetic Force Microscopy (MFM) with VEECO Dimension 3100 AFM», NRF, 2006 Архивировано 29 мая 2011 года.
Cantilever Analysis (неопр.). Дата обращения: 30 марта 2023. Архивировано 22 февраля 2018 года.
[1] Архивировано 21 июля 2013 года.
Point-dipole response from a magnetic force microscopy tip with a synthetic antiferromagnetic coating (неопр.). Дата обращения: 30 марта 2023. Архивировано 30 марта 2023 года.

zenodo.org

L. Abelmann (1998). "Comparing the resolution of magnetic force microscopes using the CAMST reference samples". J. Magn. Magn. Mater. 190 (1—2): 135—147. Bibcode:1998JMMM..190..135A. doi:10.1016/S0304-8853(98)00281-9. Архивировано 30 марта 2023. Дата обращения: 30 марта 2023.