Модель отказов (Russian Wikipedia)

Analysis of information sources in references of the Wikipedia article "Модель отказов" in Russian language version.

refsWebsite

Global rank Russian rank

1^st place

2^nd place

3^rd place

120^th place

191^st place

652^nd place

857^th place

1,185^th place

1,832^nd place

149^th place

195^th place

acm.org

R. Rodríguez-Montañés, Joan Figueras, Eric Bruls. Bridging Defect Resistance Measurements in a CMOS Process (англ.) // Proceedings of the IEEE International Test Conference on Discover the New World of Test and Design : Article. — 1992. — С. 892—899.

J.M. Acken, S.D. Millman. Fault Model Evolution For Diagnosis: Accuracy vs Precision (англ.) // Conference: Custom Integrated Circuits Conference; Proceedings of the IEEE : Article. — Boston, MA, USA, 1992. — С. 13.4.1 — 13.4.4. — doi:10.1109/CICC.1992.591298. Архивировано 24 сентября 2015 года.
Kodandapani K.L., Pradhan D.K. Undetectability of Bridging Faults and Validity of Stuck-At Fault Test Sets (англ.) // IEEE Transactions on Computers : Article. — Department of Computer Science, Wichita State University: IEEE, 1980. — № C—29. — С. 55—59. — doi:10.1109/TC.1980.1675457. Архивировано 24 сентября 2015 года.
R. Isermann. Supervision, fault-detection and fault-diagnosis methods — An introduction (англ.) // Control Engineering Practice : Article. — Elsevier, 1997. — № 5. — С. 639—652. — doi:10.1016/S0967-0661(97)00046-4. Архивировано 24 сентября 2015 года.

T. M. Storey and W. Maly. CMOS bridging fault detection (англ.) // Int.Test Conf.. — 1990. — С. 842—851. Архивировано 24 февраля 2015 года.
T. M. Storey, W. Maly, J. Andrews, and M. Miske. Stuck Fault and Current Testing Comparison Using CMOS Chip Test (англ.) // Proc. Int. Test Conf.. — 1991. — С. 311—318. Архивировано 24 февраля 2015 года.

J.M. Acken, S.D. Millman. Fault Model Evolution For Diagnosis: Accuracy vs Precision (англ.) // Conference: Custom Integrated Circuits Conference; Proceedings of the IEEE : Article. — Boston, MA, USA, 1992. — С. 13.4.1 — 13.4.4. — doi:10.1109/CICC.1992.591298. Архивировано 24 сентября 2015 года.
Kodandapani K.L., Pradhan D.K. Undetectability of Bridging Faults and Validity of Stuck-At Fault Test Sets (англ.) // IEEE Transactions on Computers : Article. — Department of Computer Science, Wichita State University: IEEE, 1980. — № C—29. — С. 55—59. — doi:10.1109/TC.1980.1675457. Архивировано 24 сентября 2015 года.

R. Isermann. Supervision, fault-detection and fault-diagnosis methods — An introduction (англ.) // Control Engineering Practice : Article. — Elsevier, 1997. — № 5. — С. 639—652. — doi:10.1016/S0967-0661(97)00046-4. Архивировано 24 сентября 2015 года.

J.M. Acken, S.D. Millman. Fault Model Evolution For Diagnosis: Accuracy vs Precision (англ.) // Conference: Custom Integrated Circuits Conference; Proceedings of the IEEE : Article. — Boston, MA, USA, 1992. — С. 13.4.1 — 13.4.4. — doi:10.1109/CICC.1992.591298. Архивировано 24 сентября 2015 года.
T. M. Storey and W. Maly. CMOS bridging fault detection (англ.) // Int.Test Conf.. — 1990. — С. 842—851. Архивировано 24 февраля 2015 года.
T. M. Storey, W. Maly, J. Andrews, and M. Miske. Stuck Fault and Current Testing Comparison Using CMOS Chip Test (англ.) // Proc. Int. Test Conf.. — 1991. — С. 311—318. Архивировано 24 февраля 2015 года.
Kodandapani K.L., Pradhan D.K. Undetectability of Bridging Faults and Validity of Stuck-At Fault Test Sets (англ.) // IEEE Transactions on Computers : Article. — Department of Computer Science, Wichita State University: IEEE, 1980. — № C—29. — С. 55—59. — doi:10.1109/TC.1980.1675457. Архивировано 24 сентября 2015 года.
R. Isermann. Supervision, fault-detection and fault-diagnosis methods — An introduction (англ.) // Control Engineering Practice : Article. — Elsevier, 1997. — № 5. — С. 639—652. — doi:10.1016/S0967-0661(97)00046-4. Архивировано 24 сентября 2015 года.