Сканирующий атомно-силовой микроскоп (Russian Wikipedia)

Analysis of information sources in references of the Wikipedia article "Сканирующий атомно-силовой микроскоп" in Russian language version.

refsWebsite

Global rank Russian rank

7web.archive.org

1^st place

3doi.org

2^nd place

3^rd place

3nanoscantech.com

low place

2wikipedia.org

low place

2worldcat.org

5^th place

2jpk.com

low place

1archive.today

14^th place

11^th place

1aip.org

2,204^th place

3,989^th place

1materialstoday.com

low place

1veeco.com

low place

1omicron.de

low place

1aist-nt.ru

low place

aip.org (Global: 2,204^th place; Russian: 3,989^th place)

rsi.aip.org

V. Y. Yurov, A. N. Klimov. Scanning tunneling microscope calibration and reconstruction of real image: Drift and slope elimination (англ.) // Review of Scientific Instruments^[англ.] : journal. — USA: AIP, 1994. — Vol. 65, no. 5. — P. 1551—1557. — ISSN 0034-6748. — doi:10.1063/1.1144890. Архивировано из оригинала 13 июля 2012 года.

aist-nt.ru (Global: low place; Russian: low place)

Комплекс СЗМ с конфокальным рамановским и флюоресцентным спектрометром (недоступная ссылка)

archive.today (Global: 14^th place; Russian: 11^th place)

V. Y. Yurov, A. N. Klimov. Scanning tunneling microscope calibration and reconstruction of real image: Drift and slope elimination (англ.) // Review of Scientific Instruments^[англ.] : journal. — USA: AIP, 1994. — Vol. 65, no. 5. — P. 1551—1557. — ISSN 0034-6748. — doi:10.1063/1.1144890. Архивировано из оригинала 13 июля 2012 года.

doi.org (Global: 2^nd place; Russian: 3^rd place)

dx.doi.org

V. Y. Yurov, A. N. Klimov. Scanning tunneling microscope calibration and reconstruction of real image: Drift and slope elimination (англ.) // Review of Scientific Instruments^[англ.] : journal. — USA: AIP, 1994. — Vol. 65, no. 5. — P. 1551—1557. — ISSN 0034-6748. — doi:10.1063/1.1144890. Архивировано из оригинала 13 июля 2012 года.
G. Schitter, M. J. Rost. Scanning probe microscopy at video-rate (англ.) // Materials Today^[англ.] : journal. — UK: Elsevier, 2008. — No. special issue. — P. 40—48. — ISSN 1369-7021. — doi:10.1016/S1369-7021(09)70006-9. Архивировано 9 сентября 2009 года.
Sugimoto Y. et al., Chemical identification of individual surface atoms by atomic force microscopy, Nature 446, 66 (2007) doi:10.1038/nature05530.

jpk.com (Global: low place; Russian: low place)

Комплекс для исследований в области биологии и материаловедения, сочетающий в себе СЗМ и оптический микроскоп . Дата обращения: 4 марта 2010. Архивировано 28 марта 2010 года.
Комплекс на основе СЗМ, оптического микроскопа и спектрометра . Дата обращения: 7 марта 2010. Архивировано 9 апреля 2010 года.

materialstoday.com (Global: low place; Russian: low place)

G. Schitter, M. J. Rost. Scanning probe microscopy at video-rate (англ.) // Materials Today^[англ.] : journal. — UK: Elsevier, 2008. — No. special issue. — P. 40—48. — ISSN 1369-7021. — doi:10.1016/S1369-7021(09)70006-9. Архивировано 9 сентября 2009 года.

nanoscantech.com (Global: low place; Russian: low place)

Комплекс для исследований на основе прямого или инвертированного микроскопа, сочетающий в себе СЗМ и оптический микроскоп . Дата обращения: 7 марта 2010. Архивировано 25 февраля 2010 года.
Исследовательский комплекс совмещающий СЗМ, конфокальный лазерный микроскоп, рамановский и флюоресцентный спектрометры, оптический микроскоп . Дата обращения: 7 марта 2010. Архивировано 25 февраля 2010 года.
АСМ установленный в криоультрамикротом . Дата обращения: 7 марта 2010. Архивировано из оригинала 14 октября 2010 года.

omicron.de (Global: low place; Russian: low place)

Комплекс для исследований совмещающий электронный и сканирующий зондовый микроскопы (недоступная ссылка)

veeco.com (Global: low place; Russian: low place)

Комплекс для исследований в области биологии, сочетающий в себе СЗМ и оптический микроскоп . Дата обращения: 4 марта 2010. Архивировано из оригинала 4 марта 2010 года.

web.archive.org (Global: 1^st place; Russian: 1^st place)

G. Schitter, M. J. Rost. Scanning probe microscopy at video-rate (англ.) // Materials Today^[англ.] : journal. — UK: Elsevier, 2008. — No. special issue. — P. 40—48. — ISSN 1369-7021. — doi:10.1016/S1369-7021(09)70006-9. Архивировано 9 сентября 2009 года.
Комплекс для исследований в области биологии и материаловедения, сочетающий в себе СЗМ и оптический микроскоп . Дата обращения: 4 марта 2010. Архивировано 28 марта 2010 года.
Комплекс для исследований на основе прямого или инвертированного микроскопа, сочетающий в себе СЗМ и оптический микроскоп . Дата обращения: 7 марта 2010. Архивировано 25 февраля 2010 года.
Комплекс для исследований в области биологии, сочетающий в себе СЗМ и оптический микроскоп . Дата обращения: 4 марта 2010. Архивировано из оригинала 4 марта 2010 года.
Комплекс на основе СЗМ, оптического микроскопа и спектрометра . Дата обращения: 7 марта 2010. Архивировано 9 апреля 2010 года.
Исследовательский комплекс совмещающий СЗМ, конфокальный лазерный микроскоп, рамановский и флюоресцентный спектрометры, оптический микроскоп . Дата обращения: 7 марта 2010. Архивировано 25 февраля 2010 года.
АСМ установленный в криоультрамикротом . Дата обращения: 7 марта 2010. Архивировано из оригинала 14 октября 2010 года.

wikipedia.org (Global: low place; Russian: low place)

en.wikipedia.org

V. Y. Yurov, A. N. Klimov. Scanning tunneling microscope calibration and reconstruction of real image: Drift and slope elimination (англ.) // Review of Scientific Instruments^[англ.] : journal. — USA: AIP, 1994. — Vol. 65, no. 5. — P. 1551—1557. — ISSN 0034-6748. — doi:10.1063/1.1144890. Архивировано из оригинала 13 июля 2012 года.
G. Schitter, M. J. Rost. Scanning probe microscopy at video-rate (англ.) // Materials Today^[англ.] : journal. — UK: Elsevier, 2008. — No. special issue. — P. 40—48. — ISSN 1369-7021. — doi:10.1016/S1369-7021(09)70006-9. Архивировано 9 сентября 2009 года.

worldcat.org (Global: 5^th place; Russian: 5^th place)

V. Y. Yurov, A. N. Klimov. Scanning tunneling microscope calibration and reconstruction of real image: Drift and slope elimination (англ.) // Review of Scientific Instruments^[англ.] : journal. — USA: AIP, 1994. — Vol. 65, no. 5. — P. 1551—1557. — ISSN 0034-6748. — doi:10.1063/1.1144890. Архивировано из оригинала 13 июля 2012 года.
G. Schitter, M. J. Rost. Scanning probe microscopy at video-rate (англ.) // Materials Today^[англ.] : journal. — UK: Elsevier, 2008. — No. special issue. — P. 40—48. — ISSN 1369-7021. — doi:10.1016/S1369-7021(09)70006-9. Архивировано 9 сентября 2009 года.

Сканирующий атомно-силовой микроскоп (Russian Wikipedia)

aip.org (Global: 2,204th place; Russian: 3,989th place)

rsi.aip.org

aist-nt.ru (Global: low place; Russian: low place)

archive.today (Global: 14th place; Russian: 11th place)

doi.org (Global: 2nd place; Russian: 3rd place)

dx.doi.org

jpk.com (Global: low place; Russian: low place)

materialstoday.com (Global: low place; Russian: low place)

nanoscantech.com (Global: low place; Russian: low place)

omicron.de (Global: low place; Russian: low place)

veeco.com (Global: low place; Russian: low place)

web.archive.org (Global: 1st place; Russian: 1st place)

wikipedia.org (Global: low place; Russian: low place)

en.wikipedia.org

worldcat.org (Global: 5th place; Russian: 5th place)

aip.org (Global: 2,204^th place; Russian: 3,989^th place)

archive.today (Global: 14^th place; Russian: 11^th place)

doi.org (Global: 2^nd place; Russian: 3^rd place)

web.archive.org (Global: 1^st place; Russian: 1^st place)

worldcat.org (Global: 5^th place; Russian: 5^th place)