Сфокусированный ионный пучок (Russian Wikipedia)

Analysis of information sources in references of the Wikipedia article "Сфокусированный ионный пучок" in Russian language version.

refsWebsite

Global rank Russian rank

2^nd place

3^rd place

low place

24^th place

2^nd place

3^rd place

10^th place

1^st place

books.google.com

J. Orloff, L.W. Swanson and M. Utlaut, «Fundamental Limits on Imaging Resolution in Focused ion Beam Systems», J. Vac. Sci. Tech. B14 (1996) p 3759 doi:10.1116/1.588663
V. Castaldo, C.W. Hagen, B. Rieger and P. Kruit, "Sputtering limits versus signal-to-noise limits in the observation of Sn balls in a Ga+ microscope, " J. Vac. Sci. Tech. B26 (2008) p 2107 doi:10.1116/1.3013306

Introduction : Focused Ion Beam Systems (неопр.). Дата обращения: 6 августа 2009. Архивировано 16 апреля 2012 года.

Introduction : Focused Ion Beam Systems (неопр.). Дата обращения: 6 августа 2009. Архивировано 16 апреля 2012 года.