Тестирование полупроводниковых пластин (Russian Wikipedia)

Analysis of information sources in references of the Wikipedia article "Тестирование полупроводниковых пластин" in Russian language version.

refsWebsite

Global rank Russian rank

2web.archive.org

1^st place

1^st place

low place

low place

low place

low place

1patentsencyclopedia.com

low place

low place

detimes.net

Физические методы диагностики в микро- и наноэлектронике / под ред. А.Е.Беляева, Р.В.Конаковой. Харьков: ИСМА. 2011. – 284 с.(5,7 Mb)[1] ISBN 978-966-02-5859-4 (недоступная ссылка)

eetasia.com

"Startup enables IC variability characterization" Архивная копия от 16 сентября 2016 на Wayback Machine // EETimes Asia, Richard Goering 2006

patentsencyclopedia.com

http://www.patentsencyclopedia.com/app/20150362548 Архивная копия от 19 сентября 2016 на Wayback Machine Patent application #20150362548 WAFER MAP IDENTIFICATION SYSTEM FOR WAFER TEST DATA

web.archive.org

"Startup enables IC variability characterization" Архивная копия от 16 сентября 2016 на Wayback Machine // EETimes Asia, Richard Goering 2006
http://www.patentsencyclopedia.com/app/20150362548 Архивная копия от 19 сентября 2016 на Wayback Machine Patent application #20150362548 WAFER MAP IDENTIFICATION SYSTEM FOR WAFER TEST DATA