R. Wayne Johnson; John L. Evans, Peter Jacobsen, James Rick Thompson, Mark Christopher.: The Changing Automotive Environment: High-Temperature Electronics(англ.). EEE TRANSACTIONS ON ELECTRONICS PACKAGING MANUFACTURING, VOL. 27, NO. 3, JULY 2004 164—176. IEEE (июль 2004). — «Semiconductors: The maximum rated ambient temperature for most silicon based integrated circuits is 85 C, which is sufficient for consumer, portable, and computing product applications. Devices for military and automotive applications are typically rated to 125 C.» Дата обращения: 26 мая 2015. Архивировано из оригинала 27 мая 2015 года.
4004 datasheetАрхивная копия от 22 ноября 2009 на Wayback Machine (в документе говорится, что цикл инструкции длится 10,8 микросекунды, а в рекламных материалах Intel — 108 кГц)
4004 datasheetАрхивная копия от 22 ноября 2009 на Wayback Machine (в документе говорится, что цикл инструкции длится 10,8 микросекунды, а в рекламных материалах Intel — 108 кГц)
R. Wayne Johnson; John L. Evans, Peter Jacobsen, James Rick Thompson, Mark Christopher.: The Changing Automotive Environment: High-Temperature Electronics(англ.). EEE TRANSACTIONS ON ELECTRONICS PACKAGING MANUFACTURING, VOL. 27, NO. 3, JULY 2004 164—176. IEEE (июль 2004). — «Semiconductors: The maximum rated ambient temperature for most silicon based integrated circuits is 85 C, which is sufficient for consumer, portable, and computing product applications. Devices for military and automotive applications are typically rated to 125 C.» Дата обращения: 26 мая 2015. Архивировано из оригинала 27 мая 2015 года.
