Сканувальний зондовий мікроскоп (Ukrainian Wikipedia)

R. V. Lapshin. // Nanotechnology : journal. — UK : IOP, 2004. — Vol. 15, no. 9. — P. 1135—1151. — ISSN 0957-4484. — DOI:10.1088/0957-4484/15/9/006.
R. V. Lapshin. // Measurement Science and Technology^[en] : journal. — UK : IOP, 2007. — Vol. 18, no. 3. — P. 907—927. — ISSN 0957-0233. — DOI:10.1088/0957-0233/18/3/046.
V. Y. Yurov, A. N. Klimov. // Review of Scientific Instruments^[en] : journal. — USA : AIP, 1994. — Vol. 65, no. 5. — P. 1551—1557. — ISSN 0034-6748. — DOI:10.1063/1.1144890. [{{{archiveurl}}} Архівовано] з джерела 13 липня 2012. Процитовано 2011-11-29.
G. Schitter, M. J. Rost. // Materials Today^[en] : journal. — UK : Elsevier, 2008. — No. special issue. — P. 40—48. — ISSN 1369-7021. — DOI:10.1016/S1369-7021(09)70006-9. [{{{archiveurl}}} Архівовано] з джерела 9 вересня 2009. Процитовано 2010-02-14.
R. V. Lapshin, O. V. Obyedkov. // Review of Scientific Instruments^[en] : journal. — USA : AIP, 1993. — Vol. 64, no. 10. — P. 2883—2887. — ISSN 0034-6748. — DOI:10.1063/1.1144377.

fast-page.org

R. V. Lapshin. // Review of Scientific Instruments^[en] : journal. — USA : AIP, 1995. — No. 9. — P. 4718—4730. — ISSN 0034-6748. (имеется перевод на русский).
R. V. Lapshin (2011). H. S. Nalwa (ред.). Encyclopedia of Nanoscience and Nanotechnology (PDF). Т. 14. USA: American Scientific Publishers. с. 105—115. ISBN 1-58883-163-9.

R. V. Lapshin. // Nanotechnology : journal. — UK : IOP, 2004. — Vol. 15, no. 9. — P. 1135—1151. — ISSN 0957-4484. — DOI:10.1088/0957-4484/15/9/006.
R. V. Lapshin. // Measurement Science and Technology^[en] : journal. — UK : IOP, 2007. — Vol. 18, no. 3. — P. 907—927. — ISSN 0957-0233. — DOI:10.1088/0957-0233/18/3/046.
V. Y. Yurov, A. N. Klimov. // Review of Scientific Instruments^[en] : journal. — USA : AIP, 1994. — Vol. 65, no. 5. — P. 1551—1557. — ISSN 0034-6748. — DOI:10.1063/1.1144890. [{{{archiveurl}}} Архівовано] з джерела 13 липня 2012. Процитовано 2011-11-29.
G. Schitter, M. J. Rost. // Materials Today^[en] : journal. — UK : Elsevier, 2008. — No. special issue. — P. 40—48. — ISSN 1369-7021. — DOI:10.1016/S1369-7021(09)70006-9. [{{{archiveurl}}} Архівовано] з джерела 9 вересня 2009. Процитовано 2010-02-14.
R. V. Lapshin, O. V. Obyedkov. // Review of Scientific Instruments^[en] : journal. — USA : AIP, 1993. — Vol. 64, no. 10. — P. 2883—2887. — ISSN 0034-6748. — DOI:10.1063/1.1144377.
R. V. Lapshin. // Review of Scientific Instruments^[en] : journal. — USA : AIP, 1995. — No. 9. — P. 4718—4730. — ISSN 0034-6748. (имеется перевод на русский).

R. V. Lapshin. // Measurement Science and Technology^[en] : journal. — UK : IOP, 2007. — Vol. 18, no. 3. — P. 907—927. — ISSN 0957-0233. — DOI:10.1088/0957-0233/18/3/046.
V. Y. Yurov, A. N. Klimov. // Review of Scientific Instruments^[en] : journal. — USA : AIP, 1994. — Vol. 65, no. 5. — P. 1551—1557. — ISSN 0034-6748. — DOI:10.1063/1.1144890. [{{{archiveurl}}} Архівовано] з джерела 13 липня 2012. Процитовано 2011-11-29.
G. Schitter, M. J. Rost. // Materials Today^[en] : journal. — UK : Elsevier, 2008. — No. special issue. — P. 40—48. — ISSN 1369-7021. — DOI:10.1016/S1369-7021(09)70006-9. [{{{archiveurl}}} Архівовано] з джерела 9 вересня 2009. Процитовано 2010-02-14.
R. V. Lapshin, O. V. Obyedkov. // Review of Scientific Instruments^[en] : journal. — USA : AIP, 1993. — Vol. 64, no. 10. — P. 2883—2887. — ISSN 0034-6748. — DOI:10.1063/1.1144377.
R. V. Lapshin. // Review of Scientific Instruments^[en] : journal. — USA : AIP, 1995. — No. 9. — P. 4718—4730. — ISSN 0034-6748. (имеется перевод на русский).