Franz Josef Gießibl (German Wikipedia)

Analysis of information sources in references of the Wikipedia article "Franz Josef Gießibl" in German language version.

refsWebsite

Global rank German rank

9doi.org

2^nd place

3^rd place

5nih.gov

4^th place

7^th place

3welt.de

201^st place

11^th place

3zdb-katalog.de

123^rd place

6^th place

2arxiv.org

69^th place

189^th place

2jvss.jp

low place

1nist.gov

355^th place

290^th place

1spiegel.de

66^th place

4^th place

1nytimes.com

7^th place

19^th place

1sciencemag.org

857^th place

511^th place

1mrs.org

low place

1aps.org

1,503^rd place

1,243^rd place

1nims.go.jp

low place

1leidenuniv.nl

4,798^th place

7,071^st place

1rug.nl

2,779^th place

3,841^st place

aps.org

APS Fellow Archive. Abgerufen am 27. Oktober 2023.

arxiv.org

F. J. Giessibl, F. Pielmeier, T. Eguchi, T. An, Y. Hasegawa: A comparison of force sensors for atomic force microscopy based on quartz tuning forks and length extensional resonators. In: Physical Review B. Band 84, Nr. 12, 2011, ISSN 1098-0121, doi:10.1103/PhysRevB.84.125409, arxiv:1104.2987 (15 Seiten).
F. J. Giessibl: Advances in atomic force microscopy. In: Reviews of Modern Physics. Band 75, Nr. 3, 2003, ISSN 0034-6861, S. 949–983, doi:10.1103/RevModPhys.75.949, arxiv:cond-mat/0305119.

doi.org

F. J. Giessibl: Atomic Resolution of the Silicon (111)-(7x7) Surface by Atomic Force Microscopy. In: Science. Band 267, Nr. 5194, 1995, S. 68–71, doi:10.1126/science.267.5194.68, PMID 17840059.
F. J. Giessibl, F. Pielmeier, T. Eguchi, T. An, Y. Hasegawa: A comparison of force sensors for atomic force microscopy based on quartz tuning forks and length extensional resonators. In: Physical Review B. Band 84, Nr. 12, 2011, ISSN 1098-0121, doi:10.1103/PhysRevB.84.125409, arxiv:1104.2987 (15 Seiten).
F. J. Giessibl: Forces and frequency shifts in atomic-resolution dynamic-force microscopy. In: Physical Review B. Band 56, Nr. 24, 1997, S. 16010–16015, doi:10.1103/PhysRevB.56.16010.
F. J. Giessibl: Advances in atomic force microscopy. In: Reviews of Modern Physics. Band 75, Nr. 3, 2003, ISSN 0034-6861, S. 949–983, doi:10.1103/RevModPhys.75.949, arxiv:cond-mat/0305119.
Franz J. Giessibl: The qPlus sensor, a powerful core for the atomic force microscope. In: Review of Scientific Instruments. Band 90, 2019, S. 011101, doi:10.1063/1.5052264.
M. Emmrich et al.: Subatomic resolution force microscopy reveals internal structure and adsorption sites of small iron clusters. In: Science. Band 348, Nr. 6232, 2015, S. 308–311, hier S. 308, doi:10.1126/science.aaa5329, PMID 25791086.
L. Gross et al.: The chemical structure of a molecule resolved by atomic force microscopy. In: Science. Band 325, Nr. 5944, 2009, S. 1110–1114, hier S. 1110, doi:10.1126/science.1176210, PMID 19713523.
F. Stilp et al.: Very weak bonds to artificial atoms formed by quantum corrals. In: Science. Band 372, Nr. 6547, 2021, S. 1196–1200, hier S. 1196, doi:10.1126/science.abe2600, PMID 34010141.
Rudolf Jaeckel-Preis 2015 an Prof. Dr. Franz J. Gießibl. In: Vakuum in Forschung und Praxis. Band 27, Nr. 5, 2015, ISSN 0947-076X, S. 38–38, doi:10.1002/vipr.201590050.

jvss.jp

Heinrich Rohrer Medal. In: jvss.jp. Abgerufen am 30. März 2024 (englisch).
JVSS Fellows. In: jvss.jp. Abgerufen am 31. Oktober 2024 (englisch).

leidenuniv.nl

lorentz.leidenuniv.nl

Colloquium Ehrenfestii Oct 27 2010: Franz J. Giessibl, Advances in atomic force microscopy. Abgerufen im 1. Januar 1

mrs.org

2023 Innovation in Materials Characterization Award. Abgerufen am 13. April 2023.

nih.gov

ncbi.nlm.nih.gov

F. J. Giessibl: Atomic Resolution of the Silicon (111)-(7x7) Surface by Atomic Force Microscopy. In: Science. Band 267, Nr. 5194, 1995, S. 68–71, doi:10.1126/science.267.5194.68, PMID 17840059.
F. J. Giessibl, S. Hembacher, H. Bielefeldt, J. Mannhart: Subatomic Features on the Silicon (111)-(7x7) Surface Observed by Atomic Force Microscopy. In: Science. Band 289, Nr. 5478, 2000, S. 422–426, PMID 10903196 (science.sciencemag.org).
M. Emmrich et al.: Subatomic resolution force microscopy reveals internal structure and adsorption sites of small iron clusters. In: Science. Band 348, Nr. 6232, 2015, S. 308–311, hier S. 308, doi:10.1126/science.aaa5329, PMID 25791086.
L. Gross et al.: The chemical structure of a molecule resolved by atomic force microscopy. In: Science. Band 325, Nr. 5944, 2009, S. 1110–1114, hier S. 1110, doi:10.1126/science.1176210, PMID 19713523.
F. Stilp et al.: Very weak bonds to artificial atoms formed by quantum corrals. In: Science. Band 372, Nr. 6547, 2021, S. 1196–1200, hier S. 1196, doi:10.1126/science.abe2600, PMID 34010141.

nims.go.jp

NIMS award. Abgerufen am 15. Juni 2024.

nist.gov

US Department of Commerce, NIST: Franz Giessibl. In: nist.gov. Abgerufen am 10. April 2016 (englisch).

nytimes.com

The New York Times. 22. Februar 2008: Scientists Measure What It Takes to Push a Single Atom.

rug.nl

Zernike Colloquium Franz J. Giessibl (Atomic force microscopy using the qPlus sensor: resolving charge distributions within atoms, exchange interactions and atomic resolution in ambient conditions) – Loos Group – MCNPM – Zernike (ZIAM) – Research – University of Groningen. In: www.rug.nl. 14. September 2013; abgerufen im 1. Januar 1.

sciencemag.org

science.sciencemag.org

F. J. Giessibl, S. Hembacher, H. Bielefeldt, J. Mannhart: Subatomic Features on the Silicon (111)-(7x7) Surface Observed by Atomic Force Microscopy. In: Science. Band 289, Nr. 5478, 2000, S. 422–426, PMID 10903196 (science.sciencemag.org).

spiegel.de

Spiegel Online – 27. Juli 2000: Wissenschaft Nanophysik: Atome unterm Mikroskop.

welt.de

Nanophysiker Franz Gießibl hantiert mit Apfelsinen. In: Die Welt. 23. Januar 2003 (welt.de [abgerufen am 29. Januar 2020]).
Die Welt. 24. Januar 2003: Nanophysiker Franz Giessibl hantiert mit Apfelsinen.
Zeitungsbericht vom 24.1.2003 in Die Welt (abgerufen am 20. August 2023). Abgerufen im 1. Januar 1

zdb-katalog.de

F. J. Giessibl, F. Pielmeier, T. Eguchi, T. An, Y. Hasegawa: A comparison of force sensors for atomic force microscopy based on quartz tuning forks and length extensional resonators. In: Physical Review B. Band 84, Nr. 12, 2011, ISSN 1098-0121, doi:10.1103/PhysRevB.84.125409, arxiv:1104.2987 (15 Seiten).
F. J. Giessibl: Advances in atomic force microscopy. In: Reviews of Modern Physics. Band 75, Nr. 3, 2003, ISSN 0034-6861, S. 949–983, doi:10.1103/RevModPhys.75.949, arxiv:cond-mat/0305119.
Rudolf Jaeckel-Preis 2015 an Prof. Dr. Franz J. Gießibl. In: Vakuum in Forschung und Praxis. Band 27, Nr. 5, 2015, ISSN 0947-076X, S. 38–38, doi:10.1002/vipr.201590050.